华穗科技将携雷达T/R组件自动测试系统，亮相2024雷达未来大会

华穗科技将于2024年5月12日-13日，于西安国际会展中心参加第四届雷达未来大会。

展位号：B43

大会介绍                                              

雷达未来大会是由中国雷达行业科技委发起的行业盛会，旨在汇聚雷达及电子信息工程领域和相关用户行业的政、产、学、研、用、资等权威专家，共同探索与推动雷达及相关技术在各行各业的拓展应用，促进供应链、产业链的融合创新发展，实现雷达及相关行业携手做强、做优、做大。

2024第四届雷达未来大会将以“雷达链接国计民生，共建数智美好未来”为主题，于2024年5月12日在十三朝古都西安举行。2024第四届雷达未来大会组委会精心打造1场主论坛和18场"雷达与"系列主题分论坛，届时将邀请多位院士作大会主旨报告，来自雷达及相关电子信息领域的专家学者、行业大咖齐聚一堂，聚焦雷达行业前沿技术突破、产业链安全畅通，共享“新机遇”、共瞻“新趋势”、共促“新发展”，为促进传统行业数智化转型，助推全面建设社会主义现代化国家贡献真知灼见。

参展产品                                              

T/R组件自动测试系统

一、简介

华穗科技推出的一站式雷达T/R组件自动测试系统，由自动测试机柜（核心VST系列产品）、上下料模组、搬运机器人、视觉检测设备、插拔工装等软硬件组成。采用人机协同方式，可同时对多个产品进行测试，极大地提高了测试效率。

华穗科技作为优秀的测试系统一站式解决方案供应商，在应用VST系列产品构建的T/R组件黑灯测试系统中，实现了无人化生产，大幅提高了测试效率，并将误差率尽可能降低。这种高度自动化的测试系统使得终端客户将在竞争激烈的市场和蓬勃发展的需求市场中脱颖而出，产品质量和性能也得到了进一步提升。

产品特点：  

• 24小时无人测试；  

• 多接插件自动并行插拔；  

• 快速装拆设计；  

• 信息上传MES系统，全自动化测试。

产品指标：  

• 频率范围 覆盖X、Ku、K波段

产品功能：

S参数测量  

• 通道增益特性  

• 通道相位特性  

• 端口驻波系数

• …… 噪声系数测量  

• 接受状态噪声系数

• …… 频谱相关参数测量  

• 谐波电平  

• 杂散电平  

• …… 交调测量  

• ……

二、测试方法——黑灯测试

系统采用黑灯测试方法，可以提高效率、降低总体成本、减少人为装插故障，真正实现降本增效。且一套设备可同时兼顾多个(4个及以上)测试机柜对多个产品(4个及以上)进行测试 ，极大地提高效率。操作人员只需完成将待测产品放入指定周转料盒的放料工作和取走测试完成的产品的取料工作。

黑灯测试功能与特点：

实现测试产品的自动取放：组件自动上下料、自动插拔、装配工艺检测与指标测试；

具备无人化测试能力，7*24小时全天候工作；

同时兼容多种型号组件，通过更换工装，实现快速换型；

生产过程全流程实时监控，设备状态图形化显示（孪生系统）；

设备互联与远程调控，具备上电顺序自检，自动故障诊断与恢复；

测试数据自动处理，测试结果保存于本地库并可上传；

具备一键自动化测试功能，可以实现仪器仪表的自动控制、测试软件可以自动生成测试结果报表等；

过程记录与质量追溯功能，为了保障产品和设备安全，配置视觉检测模块，用于对产品接插件的状态进行拍照检测和留存。及时发现产品和设备的异常，避免损失。同时可保存照片便于追溯，辅助提升产品质量；

三、关键技术——VST系列产品

通过灵活的配置和编程接口，VST系列产品可实现一站式全自动化的测试，减少了人工干预，满足高通道的生产需求。其高精度信号发生和内嵌的实时分析功能，使得测试结果更加准确可靠。此外，VST可灵活配置以满足高效自动测试条件，支持复杂的自动化测试环境，为T/R组件测试提供了更真实的应用场景。

传统测试方法向黑灯测试方法转变示意图

审核编辑：刘清