晶振负性阻抗测试与计算

 

负性阻抗-R也称为发振余裕度，用于评价晶振在发振回路上的发振能力。发振余裕度不足时，会导致振荡电路振荡不稳定甚至启动失效等问题。负性阻抗-R需满足-R>(3～5)Rr，晶振电路才能稳定发振。晶振电路负性阻抗-R的测试电路原理。

 

 

图中RQ为可调电阻。具体测试方法：通过不断增大RQ阻值，直到晶振停止振荡，记录此时的RQ阻值，根据测得的RQ值，可按如下公式计算负性阻抗：|-R|=RQ+RL

式中：RL为加载后的谐振电阻；Rr为等效串联电阻。文中设计的晶振电路经过测量计算得到的负性阻抗-R为430 Ω，大于谐振电阻的3倍，符合要求。