硬核科普|纽扣电池推力测试方法解析，含推拉力测试机应用！

最近，我接到一位客户的咨询，他想进行纽扣电池的推力测试，想知道需要用什么设备。为了满足客户的测试需求，科准测控为其定制了一套技术方案，并提供了详细的操作方法。![]

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纽扣电池以其小巧的体形和可靠的性能而闻名于世。它们的直径从4.8mm至30mm，厚度从1.0mm至7.7mm不等，因此可以轻松地适应各种微型电子产品的设计需求。无论是电脑主板、电子表、电子词典、电子秤，还是遥控器、电动玩具、心脏起搏器、电子助听器，抑或是计数器、照相机等，纽扣电池都可以为它们提供可靠的后备电源。

在这篇文章中，科准测控小编将深入探讨纽扣电池的推力测试。通过对纽扣电池在各类微型电子产品中的应用进行测试和分析，我们将探讨其性能、稳定性以及适用范围。同时，我们也将探讨纽扣电池在推动微型电子产品技术发展方面的作用，以及对我们日常生活的便捷性所带来的影响。

一、测试内容

1、推力（两个脚）

2、推力标准（Kgf）2.00

二、测试原理

利用推拉力测试机（测试头）对纽扣电池施加一定角度下的推力，以检测其与周围元器件的结合情况，进而评估其是否能达到规定的≥2.00 Kgf标准，确保产品安全性和可靠性。

三、测试常用设备

自动推拉力测试机

1、设备介绍

a、多功能焊接强测试仪是用于为微电子引线键合后引线焊接强度测试、焊点与基板表面粘接力测试及其失效分析领域的专用动态测试仪器，常见的测试有晶片推力、金球推力、金线拉力等，采用高速力值采集系统。

b、根据测试需要更换相对应的测试模组,系统自动识别模组量程。可以灵活得应用到不同产品的测试，每个工位独立设置安全高度位及安全限速，防止误操作对测试针头造成损坏。且具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。

c、适用于半导体IC封装测试、LED 封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

2、相关参考标准

1、MIL-STD-883E 微电路标准测试方法

2、 JESD22-B117 高速剪向推球测试

3、 JESD22-B116 焊线剪切测试

4、GJB548B-2005 微电子器件测试方法和程序

3、推刀

（推刀可根据产品类型进行定制）

四、测试流程

步骤一、准备工作

确保测试环境安全，无明火和易燃物。

确保推刀和测试样品准备就绪。

将推拉力测试机置于平稳的工作台面上，并连接电源。

步骤二、消除阻碍

确保测试样品周围没有其它元器件或物体阻碍钮扣电池元器件边缘，以保证测试的准确性。

步骤三、推力试验

启动推拉力测试机。

使用推拉力测试机，将仪器进行归零校准，确保测试准确性。

将推力测试机角度调整至不超过30度的范围内。

开始推力试验，以稳定的速度对元器件进行推力测试。

步骤四、检查脱焊

在推力试验过程中，注意观察元器件是否发生脱焊现象。

如果发生脱焊，记录脱焊的数值。

步骤五、结果评估

根据测试要求，判断每个元器件的推力测试结果是否合格。

若元器件脱焊数值达到或超过规定的≥2.00 Kef标准，则判定为合格。

步骤六、结束工作

关闭推拉力测试机。

将测试数据进行整理和存档。

清理测试现场，确保工作环境整洁。

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审核编辑 黄宇