湖南进芯电子科技有限公司专利:上电自检存储并行系统及方法

描述

  湖南进芯电子成功获得了一项关于“上电后存储并行自检系统及方法”的专利,该专利已于2024年5月14日正式授权发布(CN117667547B),其初始申请日期为2023年12月13日。据悉,此项发明主要面向存储器自检技术领域,其中涉及到多个子模块,由云平台通过网络进行沟通协调。

中央处理器

  具体操作流程如下:通过自检判断模块启动存储自检,接着由自检执行模块对所有存储器进行逐个检查,同时设定定时计数器记录进度。待所有存储器均完成自检后,设置自检标志。中央处理器模块会获取自检标志,并与预设的时间窗口进行比对。如果符合要求,则清除定时计数器的值并进入主程序;否则,产生溢出标志并引发不可屏蔽中断。最后,维保匹配模块将根据不可屏蔽中断生成故障参数表,导入匹配故障库生成维保数据信息,以便安排维保人员进行相应处理。

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