5月24 - 26日,在首届“科学仪器开发者大会”上,致真精密仪器自主研发的原子力显微镜系列产品重磅发布!此次发布的产品包括
多功能原子力显微镜(AtomicaPrecision)、晶圆级原子力显微镜(Wafer Mapper-M)。
该产品稳定性强、可拓展性良好、提供定制服务;可拓展横向力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜、扫描开尔文探针显微镜、刻蚀和纳米操作等。该产品作为高速、高精度微观形貌表征及综合物性分析工具,可以为高端科研与企业生产研发提供更多的选择与助力。
产品介绍
利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03 nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、磁性、电极化等性质,还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的使用。
设备亮点
● 多种工作模式
● 适配环境:空气、液相
● 多功能配置
● 稳定性强
● 可拓展性良好
典型案例
晶圆级原子力显微镜
产品介绍
利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征。样品台兼容12寸晶圆,电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300mm区域实现1μm的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。可用于产线,对晶圆粗糙度进行精密测试。
设备亮点
● 多种工作模式
● 适配环境:空气、液相
● 可旋转式扫描头
● 多功能配置
● 稳定性强、可拓展性良好
典型案例
审核编辑:刘清
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !