德州仪器首推4MB快闪记忆体装置应对恶劣环境

　　德州仪器 （TI） 宣佈推出满足恶劣环境的业界首款高温非挥发性快闪记忆体装置，该 SM28VLT32-HT具有4MB工作容量，毋需耗费昂贵成本再对工业级元件进行产品资料表规格以外的筛选 （up-screening） 与认证测试。该装置不但可在极端温度下实现资料记录，还可确保在如油气探勘、重工业以及航空等恶劣环境应用中至少工作 1000 小时。

　　

　　SM28VLT32-HT 主要特性与优势：

　　• 最宽泛温度範围：唯一可在 -55 C 至 +210 C 温度範围内工作的非挥发性快闪记忆体装置；

　　• 高可靠度：经过测试可在装置整体工作寿命内，于整个温度範围下实现稳健的读／写操作；

　　• 更短设计时间：无需外部组件，可帮助製造商快速安全地开发各种可符合恶劣环境的应用，将开发、测试与认证时间缩短 6 个月；

　　• 小型增强型封装：SM28VLT32-HT 可採用陶瓷扁平封装 （ceramic flat pack） 或已知良品晶圆 （Known Good Die ; KGD） 封装，允许在多晶片模组中整合小型封装，充分满足电路板空间有限的系统需求；

　　• 串列介面：SPI 介面可简化设计与封装，减少接脚数。

　　採用 8 mm x 25 mm陶瓷扁平封装的 SM28VLT32-HT 现已开始提供样品，将于 2013 年第 1 季提供 KGD 封装选项，并投入量産。

　　HTFLASHEVM 评估模组内建于增强型电路板，可在更高温度下实现更简易的评估，该评估模组现已开始提供。

　　SM28VLT32-HT 可对 TI 全系列类比及嵌入式处理産品形成有力互补，充分满足 SM470R1B1M-HT ARM7TDMI微控制器与 SM320F28335-HT Delfino数位讯号控制器等高温、高可靠度应用需求。