每个Nand包含一个或多个Chip。Chip是可以独立执行命令并上报状态的最小单元。
每个Chip包含一个或多个plane。不同的plane间可以并发操作,不过有一些限制。
每个plane包含多block,block是最小擦除单元(擦除后为全1,擦除失败则判定为坏块)。
每个block包含多个page+obb, page是最小的读写单元,其中obb(Out Of Band)也叫做空闲区域(spare area)/冗余区域(redundant area) 确保数据的完整性和系统的稳定性。这样设计是为了保证数据的正确性,可以在obb区存储校验数据、标记坏块、映射信息等
出厂时的坏块。
操作过程中擦除失败。
出现超出ECC校验算法纠正能力的错误时,也认为出现了坏块
电压不稳定或软件操作错误。
物理损伤,如反复擦写造成的物理损伤,超过擦写寿命。
环境因素:温度、湿度等环境因素也可能导致坏块的产生。
坏块管理机制的主要作用是识别和处理NAND闪存中的物理坏块,确保数据不会写入这些不可用的存储区域。一旦系统检测到坏块,系统会自动使用备用块来替换,并更新映射表以避免使用这些坏,确保存储设备的性能和可靠性,防止数据丢失或损坏。
如果使用过程中产生坏块,SD NAND坏块管理机制会对坏块进行管理,如果是逻辑坏块,可以通过格式化或固件更新来解决,如果是物理坏块,一旦形成,无法恢复,最好的方式就是用坏块管理功能来隔离坏块。
初始化扫描:在存储器首次使用时进行全面扫描,标记所有已知的坏块。
持续监控:通过持续监控数据错误率和性能指标来检测新出现的坏块。
错误校正码(ECC):使用ECC算法来检测和修复数据错误,间接识别坏块。
磨损均衡:通过算法将写入操作均匀分布到存储器上,减少特定区域的磨损。
有效的坏块管理算法可以显著提高SD NAND的性能和可靠性。通过及时识别和隔离坏块,可以避免数据写入到这些区域,减少错误率,提高数据访问速度。
创新算法:开发了先进的算法,能够快速准确地识别和隔离坏块。
智能监控系统:实现了智能监控系统,实时检测存储器状态,及时发现并处理坏块。
高效ECC:采用高效的错误校正码技术,提高数据的安全性和可靠性。
优化的磨损均衡策略:通过优化算法,实现存储器的均匀磨损,延长使用寿命。
提供易于操作的用户界面,使坏块管理变得简单直观。
MK米客方德公司的SD NAND坏块管理技术适用于多种场景,物联网应用、车载T-box、工业控制、医疗设备等,提供高可靠性的存储解决方案,确保数据的完整性和系统的稳定性。
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