LTE终端市场上扬，测试设备面临新需求

目前，全球4G LTE已经从两年多前的试商用过渡到大规模商用阶段，全球范围内的LTE网络建设正在如火如荼的进行中。由于移动互联网和云端应用的进一步推广，移动数据业务需求迅速增加，加之与其它4G技术的竞争，令LTE商用推广的速度明显快于之前的2G、3G网络，预计到2012年底至少有134个LTE网络在57个国家中实现商用，而在未来应用中，智能终端在LTE的发展中将起到重要的推动作用。由于LTE技术的要求相对于2G、3G来说要复杂，芯片生产成本相对还比较高，因此，未来的量产规模将随着工艺的演进而逐步扩展，预计到2015年，LTE终端设备的市场份额将达到5%或者更高。

　　

　　LitePoint产品营销高级总监John Lukez

　　

　　谈对LTE所带来的挑战，LitePoint产品营销高级总监John Lukez总结道：“它主要来自于两方面：更大的带宽和更多的测试时间。LTE采用20MHz带宽的数据信道，随着今后LTE-Advanced技术的引入将扩展至100MHz带宽的信道，这样将淘汰很多不具备足够带宽的3G测试仪。”他指出，LTE可支持40多个频段，因此支持LTE和WCDMA的多模终端（全球型手机）将需要两倍于当前仅支持3G智能手机终端所需要的频段数量，这使得测试手机所需的时间将翻倍，除非有更精良且先进的测试方案被引入。

　　串行流水线向并行测试转变

　　在目前4G LTE终端设备的生产上，绝大多数LTE智能终端将需要同时支持以往的制式包含WCDMA、CDMA2000、GSM等，而每增加一种制式就需要增加测试时间和成本，来测试更多的频段。这必然导致生产环节终端测试复杂度的提升，如若无法提升测试效率，那么测试时间将大幅度延长，从而令测试成本急剧上升，在无线终端设备市场同质化竞争日益严重的今天，对某些厂商来说，这将是致命的威胁。

　　艾法斯终端测试市场拓展经理路遥表示道： “在4G LTE真正商用化之后，特别是以智能手机形态出现于市场时，4G LTE是不会孤立存在的，其必然要实现对现有2G/3G技术的后向兼容，也就是说，在此类终端设备的生产环节中，要对已知的三代数字通信技术均进行测试 /测量。这一趋势可以从目前各家主流芯片厂商争先恐后地推出自己的‘世界模’芯片组中可窥一斑。”

　　安捷伦产品工程师白杭鹭则指出，从行业趋势和技术演进的角度来看，非信令测试是目前主流的提高生产效率的方式，它省去了以往信令测试所需要的建立信令连接所需的时间，可将测试计划时间缩短到原来的一半左右。在这一基础上，很多厂商都在尝试多个被测终端并行测试的技术，这将会对原有串行流水线生产线的布局带来变革，以便于进一步降低每个终端的平均测试时间。

　　“针对4G LTE终端设备生产线的测试/测量，安捷伦推出的EXT无线通信测试仪是针对下一代非信令无线通信测试而设计的综测仪，目前可支持LTE TDD/FDD、HSPA+、WCDMA、1xEV-DO、CDMA2000、GSM、EDGE-Evo、TD-SCDMA、WiMAX、蓝牙等技术。”EXT先进的序列分析仪专为现代芯片组中的快速序列非信令测试模式而设计，帮助厂商获得快速而精确的校准和验证测试结果。作为X序列平台的一部分，EXT 采用业经验证的标准测量应用软件，并针对高吞吐量制造测试进行了优化。此外，与EXT搭配使用的E6617A 多端口适配器可以帮助终端设备厂商达到并行接收机测试，以获得最高的制造吞吐量，进一步降低测试成本。

　　Lukez也指出，LitePoint开发的IQXstream可以支持面向4G LTE和LTE Advanced（超过100MHz带宽）所需要的更大带宽，为生产测试领域长期平滑演进的需要提供了坚实的技术支撑。同时，IQXstream也是支持 4台DUT（待测物）同时并行测试的综合测试仪，可以将生产测试吞吐量提升3倍的效率，这一创新不但极大地减少了所需测试仪的数量，而且对于工厂空间和操作员数量也相应地可以大大减少投入，从而降低了生产成本，使得客户可以在价格非常敏感的智能手机市场上提升他们宝贵的利润率。

　　另外，艾法斯为了协助客户面对4G LTE所带来的挑战，也在若干年前前瞻性地推出了射频测试平台——PXI3000。PXI3000依托SDR技术，成功实现了终端设备产线测试仪器的高速化、模块化和通用化。客户使用艾法斯所提供的单一PXI3000硬件平台，通过纯软件处理的方式即可以实现对所有已知的2G/3G/4G数字通信技术相关射频指标的产线进行测试测量。该平台还可拓展至对其它诸多商用无线通信标准的测试，如：WiFi 802.11 a/b/g/n/ac，蓝牙1.0/1.2/2.0/2.1/4.0，GPS和FM TX等。