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贴片电容容值偏低的原因多种多样,涉及电容器本身的质量、老化、构造设计、环境因素以及安装和焊接等多个方面。以下是关于贴片电容容值偏低原因的详细分析:
1、电容器质量问题:品质欠佳的电容器其容量通常达不到所标称的数值。
2、电容器老化问题:电容器老化后,内部绝缘材料可能会损坏,导致容量不足。老化现象在所有以铁电系材料做介电质的材料产品中均有发生,是一种自然的不可避免的现象。
3、构造设计问题:电容的构造设计可能存在问题,例如电极的形状、扁平度等不符合标准,都会影响电容的容量大小。
4、环境因素:
高温:例如,在40℃时的测试容量将比25℃时的测试容量低了接近20%。
低温、潮湿、腐蚀:这些变化都可能影响电容的容量大小。
5、安装和焊接问题:若贴片电容安装不稳固或焊接方法不规范容易导致电容容量大小出现偏差。焊接时加热过度,会导致电容内部介质材料损伤,从而影响电容容量大小。
6、测试仪器问题:
量测仪器差异:大容量的电容(通常指1UF以上)测量时更容易出现容值偏低的现象,主要原因是施加在电容两端的实际电压不能达到测试条件所需求的电压。
测试条件:对于不同容值的贴片电容会采用不同的测试条件来测量容值,主要在测试电压的设定和测试频率的设定上有区别。
测量环境条件:贴片陶瓷电容系列产品被称为非温度补偿性元件,在不同的工作温度环境下,电容量会有比较显著的变化。
7、MLCC产品材料老化现象:内部晶体结构随温度和时间产生了变化导致了容值的下降,但这是一个可逆现象,通过一定的条件可以恢复容值。
为了解决贴片电容容值偏低的问题,可以采取的措施包括:
使用高精度仪器进行测量,确保测试条件的准确性。
对于材料老化引起的容值下降,可以采用高温烘烤的方法进行恢复。
确保安装和焊接过程的质量,避免不必要的容量损失。
将产品放置在稳定的测试环境下进行测试,以减少环境因素对测试结果的影响。
审核编辑 黄宇
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