器件选型研讨会助力“中国创造”高性能测试仪器

 

　　2013首届仪器仪表器件选型技术研讨会即将开幕

　　测试仪器，作为测试技术中最重要的工具，一直是一个看似规模并不庞大，但影响深远的市场。据统计，虽然每年测试仪器的市场只占全球经济总量的万分之二，但是却带动着全球70%以上的经济增长，而对中国产业格局来说，电子测试仪器一直是电子产业中相对滞后的一环，仪器产业的滞后间接延缓了我国电子产业的高速发展。

　　每个电子设计工程师的工作离不开测试仪器，而高性能测试仪器的设计开发同样源于广大电子工程师的智慧。研发人员在仪器仪表的研发过程中，不可避免涉及到各种电子器件的选型问题，测试仪器对半导体器件有着极为独特的性能与指标的需求，为此众多电子元器件厂商也针对测试仪器开发出各种专门的产品。如何将这些产品合理的选型及应用到自己的仪器设计中，从而让设计工程师开发出高性能、易使用、可靠性好又有成本优势的测试仪器，对提升中国制造的测试仪器产品的竞争力至关重要。

　　2013年11月13日，在第82届中国电子展同期，中国电子展组委会将与《电子产品世界》杂志社合力举办“首届仪器仪表器件选型技术研讨会”。我们诚挚邀请广大电子工程师光临上海国际展览中心，和专家一起围绕“模拟前端在测试仪器设计中的重要意义与选型特殊需求”“ADC的性能对测试仪器信号捕获的价值及选型指导”“如何选择最适合的放大器及相关信号处理系统”“FPGA在测试仪器设计中的优势与应用实例”“测试仪器用操作系统应用指南”“信号分析与信号处理技术在不同测试仪器中的应用”等题目进行探讨，共同倾听众多半导体厂商最新的产品在电子测试仪器设计中的应用技巧与相关方案，并交流工程师的仪器设计需求，共同寻找最有针对性的设计解决方案。

　　2013首届仪器仪表器件选型技术研讨会现火热报名中，详情请登陆http://shanghai.icef.com.cn/forumshow.aspx？id=37&listid=2061#1 ，关注新浪微博：中国电子展仪器展区 了解更多行业热点！