系统测试
MEMS麦克风测试商机爆发。随着移动装置、车载通讯和可穿戴电子扩大导入语音控制功能,MEMS麦克风出货量正快速翻升,带动新一波元件测试商机,激励仪器商加码研发PXI模组化半导体测试仪器,以满足与日俱增的MEMS麦克风测试需求。
由于MEMS麦克风芯片商日益追求更快的测试时程和更低测试成本,因此美商国家仪器遂以LabVIEW可编程软体平台,搭配低成本、高弹性的PXI模组化硬体架构,开发新一代半导体自动化测试系统,期协助MEMS麦克风芯片业者突破采用大型自动化测试设备(ATE),难以降低仪器占位空间和测试成本的桎梏。
美商国家仪器资深销售副总裁Pete Zogas表示,随着MEMS麦克风快速放量,芯片商对测试效率和成本效益的要求也明显提高,遂积极寻求系统层级的PXI自动化测试方案,期以较低成本增加测试产能。
Zogas进一步指出,基于LabVIEW加PXI架构的半导体自动化测试方案,不仅具备模组化、可编程效益,有助元件商快速设定上线、客制化测试流程并降低设备体积,亦可搭配高效能现场可编程门阵列(FPGA),引进快速傅立叶转换(FFT)等高阶演算法,进而提高数倍测试速度;对于满足需求急速涌现的MEMS麦克风测试而言,将有莫大助益。
据悉,MEMS麦克风测试须兼顾类比和数位测试功能,而传统ATE虽具有高速数位设计优势,但面临扩充类比资料撷取、转换与分析设备的需求时,就须一笔可观的花费。PXI自动化测试方案结合LabVIEW、PXI与FPGA的优势特性,不仅能满足MEMS麦克风各种类比和数位测试需求,相较于传统ATE系统,更可提升约二十倍的测试速度。
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