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电源完整性问题以及改进思路分析2

消耗积分:0 | 格式:doc | 大小:402KB | 2015-01-12

张瑾

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在本文的第一部分里，详细介绍了电源完整性的基本概念，以及环路电感、L×(di/dt)和工艺对电源完整性的影响等。这里，将详细介绍电源完整性设计中的最优IR压降方法，以及片上电感对电源完整性所带来的影响。另外，还将详细介绍像45nm这类更新的工艺节点上，电源完整性经常存在的导致器件良率下降的问题，包括呈2次方或指数式增长的L×(di/dt)噪声，全面电源完整性技术和EDA工具的严重缺乏，无法清楚地理解芯片电源完整性等等。最后将讨论针对上述这些问题的可能解决方法。
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评论(1)
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Sherlock_Z 2016-07-15
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谢谢分享，好东西，可惜这个角落很少被人发现！ 收起回复

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