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并行测试技术的现状及其发展趋势
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2009-07-15
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并行测试（Parallel Test）拥有减少测试时间，降低测试成本的强大优势，正成为研究热点之一。首先介绍了并行测试技术产生的背景，总结了国内外的研究现状；接着介绍了实现并行测试的几种结构；最后展望了并行测试技术的发展趋势。
传统ATS的测试方法是顺序测试，一次仅能测试一个被测件（UUT，Unit Under Test）的某一个参数。计算机要么在等待UUT到达指定状态，要么在等待仪器完成测试，CPU和仪器有多达80％的时间处于空闲状态，整个系统的测试效率极低［1］。
20世纪末，随着微电子技术的飞速发展，这种测试方式已经不能满足印刷电路板（PCB）、通讯产品和片上系统（SoC）等集成电路（Integrated Circuit）测试领域中UUT大批量且日益复杂的特点，产品的测试成本在总成本中的比重越来越大。为了降低成本、减少测试时间，并行处理技术被引入并得到广泛应用，形成了并行测试技术，并开始得到越来越多的关注。1996年，在美国国防部自动测试系统执行局（DoD ATS EAO）的统一协调下，美军与工业界联合提出了下一代ATS“NxTest”的体系结构，将并行测试技术列为关键技术之一来研究。
传统ATS的测试方法是顺序测试，一次仅能测试一个被测件（UUT，Unit Under Test）的某一个参数。计算机要么在等待UUT到达指定状态，要么在等待仪器完成测试，CPU和仪器有多达80％的时间处于空闲状态，整个系统的测试效率极低［1］。
20世纪末，随着微电子技术的飞速发展，这种测试方式已经不能满足印刷电路板（PCB）、通讯产品和片上系统（SoC）等集成电路（Integrated Circuit）测试领域中UUT大批量且日益复杂的特点，产品的测试成本在总成本中的比重越来越大。为了降低成本、减少测试时间，并行处理技术被引入并得到广泛应用，形成了并行测试技术，并开始得到越来越多的关注。1996年，在美国国防部自动测试系统执行局（DoD ATS EAO）的统一协调下，美军与工业界联合提出了下一代ATS“NxTest”的体系结构，将并行测试技术列为关键技术之一来研究。
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h1654155977.6620
2022-08-23
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