近日,上海国际汽车城迎来了汽车电子行业的年度盛事——NEPCON汽车电子智造创新大会。此次大会汇聚了行业精英与顶尖技术专家,共同探讨智能座舱、自动驾驶、电机电控及汽车电子可靠性测试等领域的最新进展与未来趋势。
作为全球智能操作系统及端侧智能技术的领航者,中科创达受邀出席并贡献了精彩纷呈的见解。会上,中科创达智能汽车事业群测试产品总监许明新发表了题为《汽车智能化下的智驾及智舱测试的思考》的主旨演讲,深刻剖析了智能汽车时代对测试技术的新要求与挑战。
许明新总监全面展示了中科创达在智能座舱与自动驾驶测试领域的创新成果,包括其自主研发的自动化测试产品和技术方案。这些方案不仅覆盖了座舱与智驾系统的独立测试,还深入探索了智驾域控与座舱域控融合下的综合测试策略,为行业提供了高效、精准的测试解决方案。
此次演讲不仅展现了中科创达在智能汽车测试领域的领先地位,也为与会者提供了宝贵的思考与启示,共同推动汽车电子智造行业的创新发展。
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