立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
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描述
01｜检测需求：金属隔膜重复性测量
立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
02｜检测方式
为了保证精度，首先先用千分尺进行测量，得出相应的厚度数据，在选择合适的侧头，根据结果，我们现在立仪科技H4UO控制器搭配D27A20侧头
03｜千分尺测量结果
经过测量可以厚度是84微米
立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
04｜光谱共焦测量结果
经过测量可以厚度83.417μm
立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
05｜60秒内重复精度展示（部分）
60秒内重复精度展示（部分）
立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
06｜光谱共焦侧头
D27A20侧头相关参数
立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
审核编辑 黄宇
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