FPGA/ASIC技术
许多信号处理应用都需要上采样。从概念上来讲,最简单的方法是,对一组向量数据进行M倍上采样可以将该向量数据的离散傅里叶变换(DFT)进行补零处理,插入实际频率分量的(M-1)倍个零后再将补零的向量数据变换回时域。这种方法的计算代价较高,在FPGA中实现时效率也不高。这里提出了一种高效、并行的实时上采样电路,每个ADC时钟生成M个上采样值,其中M是所期望的上采样因子。我们在赛灵思公司的Virtex-6 XC6VLX75T FPGA上实现了一个M为4的上采样,以作为这种通用技术的一个示例。
我们的并行上采样技术基于称为“加窗Sinc插值”的概念,有一些优秀文献对其作了详细描述。为便于说明,考虑图1示例子中的16 MHz模拟信号。
图1——用于说明该上采样过程的16-MHz信号示例
该信号可以用下式表示:
如果对图1所示的信号进行采样/量化,在80Mhz时使用驱动到其满量程输入范围97.7%的一个12位ADC,每个信号周期只采样5次,生成如图2所示的样本数据序列。以因子4对该示例数据序列进行上采样,达到320MHz的有效采样率,可在每一信号周期内提供20个样本。虽然这里描述的方法可以采用更大的上采样因子,但为便于说明,这里的上采样因子M = 4。
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !