无狭缝平场 XUV 光谱仪和光束分析仪

　　特点：

　　● 光源直接成像

　　● 1-200nm 平场光谱仪

　　● 无狭缝设计提供高效率: 没有对对准敏感的入射狭缝

　　● ~20倍于常规光谱仪的光线收集能力，并成比例的提高信噪比

　　高精度/高效率

　　● 光栅绝对位置监测确保光栅准直

　　● 高效率像差校正平场光栅

　　● 集成波束分析仪

　　● 双杂光滤波片

　　● 便捷的软件控制

　　可定制

　　● 每套光谱仪完美匹配客户特殊应用

　　● 实验室设备对接接口

　　● 特定的设备尺寸

　　● 用户自定义过滤器安装件

　　信号增强样本测试结果，在相同的光源强度下，maxLIGHT (实线)的分辨率明显高于标准光谱仪(虚线)。在相同的分辨率下，标准光谱仪需要加载细小的狭缝，这样会明显降低信号强度。而无狭缝技术能同时提高信号分辨率和强度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.)

　　maxLIGHT高分辨率样品测试结果，该高次谐波信号是由单个飞秒脉冲与固体目标作用后滤波得到的，而谐波产生过程中的内在子结构被XUV光谱仪清晰的记录下来。Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)

　　规格参数：

审核编辑 黄宇