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电磁脉冲对半导体器件的电流模式破坏
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2009-10-29
贾虎世
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电磁脉冲对半导体器件的电流模式破坏:利用时域有限差分（FDTD）方法，对电磁脉冲引起半导体器件的毁坏过程进行了数值模拟，得到了无负载半导体pn结器件在快前沿（ns量级）电磁脉冲作用下的瞬态行为，及由于电流引起的器件烧毁过程中器件参数的变化情况。
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