模拟技术
EOS是英文Electrical Over Stress的首字母缩写,其意为电气过应力 ,意思就是有过高的电压和/或电流信号加到了受试对象上,它受不了了,被损坏了,所以说“过”了。
要生成EOS可以有三种方法:高电压,大电流,高电压+大电流,其实ESD事件只是EOS的其中一种短时间的高压,所以针对EOS,必须要考虑更大的电流和持续时间。
我们的手机的充电环境越来越复杂,有车充,有太阳能充电器,有墙充,山寨充电、快充等,脆弱的手机必须承受各类充电器的。 而更多手机因为充电回路的过压过流造成PMU,或者充电IC的损伤,形成故障。
欠发达国家,例如印度和非洲已经是EOS事件的重灾区,这些都是电网在落后地区更不稳定的原因。所以手机方案公司都已经针对EOS 提供可靠的解决方案了。
雷卯电子根据华为、OPPO等客户的需求,研发了可靠的多种解决方案,供大家参考下目前EOS的解决方案。
EOS测试需求指标:
国内目前标准里还没有具体的过压测试的指标,但是涉及出口的产品,都会提出相关的需求,从2015年的过压浪涌300V,到目前已经有客户需要测试500V。都显示了客户对过压可靠性的高要求。
过压保护其实很简单,但是在手机中确实有难点,难点在哪儿,在于手机的空间有限,我们必须设计出足够大的芯片,封装在足够小的体积中。
以上组合方案用到三颗料特点介绍下:
PSMFJ24CA 是SOD-123FL封装的大功率TVS芯片,功率可以达到5000W,经过测试可以满足250A,箝位电压30V的性能要求,初级保护根据终端要求,可以选择7V和12V产品。
OVP3881是过压保护芯片,其保护电压是可以根据主芯片的门限电压大小调节至客户需要的数值,
后端选用SD4501P4-3也是大功率的TVS,封装DFN2020,由于电压低,能保护的电流也很大,以下是这颗TVS的测试数据列表
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