存储技术
s8254系列内置高精度电压检测电路和延迟电路,是用于3节或4节串联锂离子/锂聚合物可充电电池保护的IC。通过SEL端子的切换,可用来保护3节或4节串联电池。
数据总线缓冲器
数据总线缓冲器是一个三态、双向8位寄存器主要作用是与cpu进行数据交换,8位数据线D7~D0与CPU的系统数据总线连接,构成CPU和8254之间信息传送的通道,CPU通过数据总线缓冲器向8254写入控制命令、计数初始值或读取计数值。
在SEL端子=VDD电位时选择4节电池的情况下的S-8254A系列的测定方法。在SEL端子=VSS电位时,要选择3节电池的情况下,请将电源V4短路。
1. 工作时消耗电流、休眠时消耗电流
1.1 工作时消耗电流(IOPE)
在V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、VVMP = VDD时,VSS端子的电流即为消耗电流 (IOPE)。
1.2 休眠时消耗电流 (IPDN)
在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.5 V、VVMP = VSS时,VSS端子的电流即为休眠时的消耗电流 (IPDN)。
2. 过充电检测电压、过充电解除电压、过放电检测电压、过放电解除电压、过电流检测电压1、过电流检测电压2、过电流检测电压3、CTL输入电压“H”、CTL输入电压“L”、SEL输入电压“H”、SEL输入电压 “L”
在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、CDT端子=“开路”、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下,请确认COP端子以及DOP端子为“L” (VDD × 0.1 V以下的电压) (以下记载为初始状态)。
2.1 过充电检测电压 (VCU1)、过充电解除电压 (VCL1)
从初始状态开始缓慢提升V1的电压,COP端子的电压变为“H” (VDD × 0.9 V以上的电压)时V1的电压即为过充电检测电压 (VCU1)。之后,缓慢降低V1的电压,COP端子的电压变为“L”时V1的电压即为过充电解除电压 (VCL1)。
2.2 过放电检测电压 (VDL1)、过放电解除电压 (VDU1)
从初始状态开始缓慢降低V1的电压,DOP端子的电压变为“H”时V1的电压即为过放电检测电压 (VDL1)。之后,缓慢提升V1的电压,DOP端子的电压变为“L”时V1的电压即为过放电解除电压 (VDU1)。只要使Vn (n = 2 ~ 4)的电压产生变化,也与n = 1的情况相同可以计算出过充电检测电压 (VCUn)、过充电解除电压(VCLn)、过放电检测电压 (VDLn) 以及过放电解除电压 (VDUn)。
2.3 过电流检测电压1 (VIOV1)
从初始状态开始缓慢提升VINI端子的电压,DOP端子的电压变为“H”时VINI端子的电压即为过电流检测电压1 (VIOV1)。
2.4 过电流检测电压2 (VIOV2)
从初始状态开始设置CDT端子的电压为VSS之后,缓慢提升VINI端子的电压,DOP端子的电压变为“H” 时VINI端子的电压即为过电流检测电压2 (VIOV2)。
2.5 过电流检测电压3 (VIOV3)
从初始状态开始缓慢降低VMP端子的电压,DOP端子的电压变为“H”时VDD与VVMP的电压差(VDD − VVMP) 即为过电流检测电压3 (VIOV3)。
2.6 CTL输入电压“H” (VCTLH)、CTL输入电压“L” (VCTLL)
从初始状态开始缓慢提升CTL端子的电压,COP端子以及DOP端子的电压变为“H”时CTL端子的电压即为CTL输入H电压 (VCTLH)。之后,缓慢降低CTL端子的电压,COP端子以及DOP端子的电压变为“L” 时CTL端子的电压即为CTL输入L电压 (VCTLL)。
2.7 SEL输入电压“H” (VSELH)、SEL输入电压“L” (VSELL)
从初始状态开始设置V4 = 0V,确认DOP端子为“H”。之后,缓慢降低SEL端子的电压,DOP端子的电压变为“L”时SEL端子的电压即为SEL输入L电压 (VSELL)。之后,缓慢提升SEL端子的电压,DOP 端子的电压变为“H”时SEL端子的电压即为SEL输入H电压 (VSELH)。
3. 过充电检测延迟时间、过放电检测延迟时间、过电流检测延迟时间1、过电流检测延迟时间2、过电流检测延迟时间3
在VVMP = VDD、VINI = VSS、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下,请确认COP端子以及DOP端子为“L”(以下记载为初始状态)。
3.1 过充电检测延迟时间 (tCU)
过充电检测延迟时间 (tCU) 是从初始状态开始,使V1的电压在瞬间变化为4.5 V之后,COP端子的电压从“L”变为“H”为止的时间。
3.2 过放电检测延迟时间 (tDL)
过放电检测延迟时间 (tDL) 是从初始状态开始,使V1的电压在瞬间变化为1.5 V之后,DOP端子的电压从“L”变为“H”为止的时间。
3.3 过电流检测延迟时间1 (tIOV1)
过电流检测延迟时间1 (tIOV1) 是从初始状态开始,使VINI端子的电压在瞬间变化为0.4 V之后,DOP 端子的电压从“L”变为“H”为止的时间。
3.4 过电流检测延迟时间2 (tIOV2)
过电流检测延迟时间2 (tIOV2) 是从初始状态开始,使VINI端子的电压在瞬间变化为VIOV2最大值+ 0.2 V 之后,DOP端子的电压从“L”变为“H”为止的时间。
3.5 过电流检测延迟时间3 (tIOV3)
过电流检测延迟时间3 (tIOV3) 是从初始状态开始,使VMP端子的电压在瞬间变化为VIOV3最小值− 0.2 V 之后,DOP端子的电压从“L”变为“H”为止的时间。
4. 向0 V电池充电开始充电器电压(向0 V电池充电功能“可能”的产品)、向0 V电池充电禁止电池电压(向0 V电池充电功能“禁止”的产品)
针对0 V电池,可以通过充电功能的选择,向0 V充电开始充电器电压或者向0 V充电禁止电池电压的一方适用于各类产品。
4.1 向0 V电池充电开始充电器电压 (V0CHA)(向0 V电池充电功能“可能”的产品)
向0 V充电开始充电器电压的情况下,在V1 = V2 = V3 = V4 = 0 V、VVMP = V0CHA最大值时,COP端子的电压比V0CHA 最大值− 1 V小。
4.2 向0 V电池充电禁止电池电压 (V0INH)(向0 V电池充电功能“禁止”的产品)
向0 V充电禁止电池电压的情况下,在V1 = V2 = V3 = V4 = V0INH最小值、VVMP = 24 V时,COP端子的电压比VVMP − 1 V高。
5. VMP−VDD间电阻、VMP−VSS间电阻、VC1端子电流、VC2端子电流、VC3端子电流、VC4端子电流、 CTL端子电流“H”、CTL端子电流“L”、SEL端子电流“H”、SEL端子电流“L”、COP端子泄漏电流、 COP端子吸收电流、DOP端子源极电流、DOP端子吸收电流
在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、其他为“开”的前提下(以下记载为初始状态)。
5.1 VMP−VDD间电阻 (RVMD)
VMP−VDD间电阻 (RVMD)是从初始状态开始,利用VVMP = VSS时的VMP端子的电流 (IVMD),可以从 RVMD = VDD / IVMD计算出。
5.2 VMP−VSS间电阻 (RVMS)
VMP−VSS间电阻 (RVMS)是从初始状态开始,利用在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.8 V时的VMP端子的电流 (IVMS),可以从RVMS = VDD / IVMS计算出。
5.3 VC1端子电流 (IVC1)、VC2端子电流 (IVC2)、VC3端子电流 (IVC3)、VC4端子电流 (IVC4)
在初始状态下,流经VC1端子的电流为VC1端子电流 (IVC1),流经VC2端子的电流为VC2端子电流 (IVC2),流经VC3端子的电流为VC3端子电流 (IVC3),流经VC4端子的电流为VC4端子电流 (IVC4)。
5.4 CTL端子电流“H” (ICTLH)、CTL端子电流“L” (ICTLL)
在初始状态下,流经CTL端子的电流为CTL端子电流“L” (ICTLL),之后,在VCTL = VDD时流经CTL端子的电流为CTL端子电流“H” (ICTLH)。
5.5 SEL端子电流“L”、 SEL端子电流“L” (ISELL)
在初始状态下,流经SEL端子的电流为SEL端子电流“H” (ISELH),之后,在VSEL = VSS时流经SEL端子的电流为SEL端子电流“L” (ISELL)。
5.6 COP端子吸收电流 (ICOL)、COP端子泄漏电流 (ICOH)
从初始状态开始,在VCOP = VSS + 0.5 V时,流经COP端子的电流为COP端子吸收电流 (ICOL)。之后,在V1 = V2 = V3 = V4 = 6 V、VCOP = VDD时流经COP端子的电流为COP端子泄漏电流 (ICOH)。
5.7 DOP端子吸收电流 (IDOL) 、DOP端子源极电流 (IDOH)
从初始状态开始,在VDOP = VSS + 0.5 V时,流经DOP端子的电流为DOP端子吸收电流 (IDOL)。之后,在VVMP = VDD − 2 V、VDOP = VDD − 0.5 V时流经DOP端子的电流为DOP端子源极电流 (IDOH)。
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