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面向生产的测试调试新理念：虚拟测试系统

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:344 | 2009-12-15

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当前，LSI 的发展越来越趋向于高集成度和高复杂度。LSI 工艺向微观发展的同时，LSI
本身也向多功能性发展。中国面向生产的半导体测试理念不过3-4 年的历史，面对越来越复杂的测试需求，测试程序开发人员显得力不从心。更加困扰开发人员的是，他们必须面对缩短测试程序调试时间以降低测试成本的压力。
很显然，在LSI 器件制造出来后必须对其进行全部功能的测试，对此别无选择。在这种
模式下，如果测试程序调试过程出现问题，很难很快判别出究竟是哪个环节的问题：试程序本身问题？芯片本身工艺问题？芯片设计缺陷？接口电路板故障？测试系统本身的功能限制？等等。解决以上问题需要大量的时间。并且，这种花费的时间往往和芯片设计本身并无直接关系，却一并算在了测试程序的总开发时间并计入总成本。
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