NI：射频集成度趋高 PXI方案显优势

近年来电子技术创新突飞猛进，各种新器件、新工艺、新材料等等推动着消费电子、汽车电子、智能医疗等领域的快速革新，反过来这些新兴应用进一步加快 了半导体技术的再创新。每个时代都有特定的时代标志的产品，进入到智能化设备时代，作为基础和辅助的电子测试测量技术又会发生什么颠覆性的创新？下面我们 一起从中国地区规模最大、最具影响力的NI PXI技术和应用专业论坛上寻找答案。

　　在PXI TAC 上，NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远 先生围绕无线技术的最新发展展开讨论，针对渐趋复杂的无线测试和不同无线设备的测试方案，深入探讨了如何通过 NI PXI测试策略的优化来提升测试效率。

　　“从平板电脑、智能手机、可穿戴设备到各种智能移动设备，科技正以前所未有的迅猛速度发展，智能聚合的时代正以新的思维推动测试测量仪器的快速更迭。 虽然传统仪器也可以集成性能更好的组件，但是其更新速度慢于移动设备的发展速度。而NI 主推的模块化PXI平台，按需配置的高灵活性特征则可有效解决这一问题，而且基于开放的软件平台，相比传统仪器更具优势和性价比，特别是在快速更新换代的 消费电子领域优势明显”。NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远 如是表述。

　　

　　NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远

　　以 NI PXI 方案应对射频测试难点

　　如今，小型手持通信设备设计面临的主要挑战是，如何适应多种移动通信模式和频带的并存以及适用于小型手持设备的无线应用程序。为解决这一挑战，许多国 际原厂诸如高通、博通等都推出了聚合型的射频基带芯片，在单一设备上集成多种无线协议是非常明显的产业趋势。集成度趋高的射频前端器件产品导致了待测设备 复杂度不断提升，对应的测试复杂度也不断提升，这对测试仪器提出了新的挑战。

　　特别是随着无线通信技术的发展，无线标准协议越来越多元化，设备复杂度与日俱增。像WLAN，从最早的 802.11 标准演化出 802.11 a / b / g / n，再到现在的802.11ac标准，只经历了短短数年时间。通信技术的快速革新同样对测试系统提出了更高的要求。

　　

　　NI中国射频与无线通信市场开发经理 姚远强调，单一设备上集成多种无线协议是产业趋势。