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基于灰色理论的电子设备寿命预测研究

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:223 | 2009-12-22

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利用灰色GM(1,1)模型预测可以有效缩短电子设备寿命试验时间，传统建模方法常常
会有较大误差，主要因为序列光滑度的改进及背景值的构造存在问题。本文提出一种方法，采用正弦处理建模序列，对背景值进行近似构造，最终建立相应的新陈代谢模型。实例表明改进后的GM(1,1)模型，具有更高的预测精度，可以在电子设备的试验中推广应用。
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