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嵌入式系统死锁检测方法
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2018-01-31
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随着嵌入式系统性能要求的提高，并发多线程程序设计在嵌入式系统中的应用越来越广泛。嵌入式系统特点是体积小、资源和计算能力有限、程序的执行依赖外部输入。因此，嵌入式软件的并发缺陷比通常的计算机软件更加棘手。死锁是并发缺陷的典型问题，有时会导致整个嵌入式系统陷入瘫痪，严重影响嵌入式系统的稳定性、可靠性。由于死锁难以再现和修正，如何有效检测死锁成为嵌入式软件领域的研究重点。
目前死锁的检测方法主要有静态检测和动态检测。静态检测原理是通过分析源代码进行抽象，构建出状态模型，进而发现潜在的死锁。针对嵌入式系统死锁缺陷问题，提出了一种基于Lamport clock插桩记录的嵌入式系统死锁检测方法——LPM（Lamport clock Pile Rccord Dcadlock Detcction Mcthod）。首先利用Lamport clock对嵌入式程序线程关系、资源依赖关系进行记录，然后离线提取日志记录信息，获取资源图并进行死锁检测。仿真实验表明，与经典的插桩机制相比，该方法可有效降低插桩开销并能准确检测出死锁。
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