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使用高级事件触发调试高速嵌入式微处理器系统中的实时问题

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:919.57KB | 2024-10-28

张飞雄

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随着越来越多的系统组件嵌入到系统处理器或芯片中，调试需要新的技术。过去可用于外部封装引脚探针连接的信号和总线，现在对用户隐藏在处理器封装中。这个问题被称为消失可见性，意味着用户不能再使用传统技术来观察系统活动。为了恢复可见性，现在还必须嵌入调试触发器，如断点、观察点、计数器和其他调试工具，以允许访问嵌入的信号。这份应用报告指导用户如何利用Tl新型数字信号处理器上的高级事件触发(AET)嵌入式元件。
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