测试点之间的间距范围

测试点之间的间距决定了使用何种样式的测试探针。以下是几种常见的测试探针样式和其适用的间距范围：

100mil测试探针：这种样式的测试探针提供了最佳的价格、性能和可靠性，并且有助于打造坚固耐用的测试夹具。这种探针适用于测试点间距大于等于100mil的情况。

50mil测试探针：这种样式的测试探针提供的价格、性能和可靠性相对较差，并且需要定期的特殊保养。这种探针适用于测试点间距在50mil左右的情况。

小于50mil的测试点间距：对于小于50mil的测试点间距，不建议使用50mil测试探针。使用50mil测试探针可能会导致接触不良、信号干扰等问题。因此，尝试应完全避免或尽量减少小于50mil的测试点间距。

图：测试点到测试点间距

中心间距测试点之间的距离取决于用于制造测试装置的探针的类型，有三种类型，根据要求的触点有不同的头：

尖头：被测点是凸状的平片状或者有氧化现象

伞形头：被测点是孔或者是平片状或凹状

平头：被测点是凸起平片状

内碗口平头：被测点是凸起

皇冠头：被测点是凸起或平片状

九爪头：被测点是平片或者凹状

三针头：被测点是凹状

圆头：被测点是间距较密且凸起或平片状