IC测试技术NAND Tree确认管脚连接问题

本文将浅谈基于NAND Tree的芯片测试技术，主要是测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接问题，将NAND门接入PAD和上级的NAND门输出，观察该Pin的跳变情况。

今天讲一个很简单也很常用的IC测试技术-NAND Tree。这个技术主要用来测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接是否有问题。测试的方法简单来说是：在所有的Pin和PAD连接中引入NAND门，NAND门的一端接PAD，另一端接上级的NAND门输出，从而将这些NAND门级联起来，最后通过一根output Pin输出。通过观察该Pin的跳变，确定有没有管脚连接问题。

下图是一个NAND tree的示意图。带标号的是I/O Pin，三角形是三态门，下图有双向的I/O Pin，有单向的output Pin和单向的input Pin。在做NAND tree测试的时候，output功能的Pin被隔离，双向Pin的output 模式也被disable掉，只打开input的功能。这些带input功能的Pin像一串蚂蚱一样，被串在NAND tree构成的链上。

图中所有的Pin，比如标号（1），（2），（3），（n）的Pin，在初始阶段都输入Low，这样NAND tree最后的输出就会是Low。

然后将（1）Pin的输入调成HIGH，其余的输入Pin保持输入LOW，NAND tree的输出就会变成HIGH。

然后将（2）Pin的输入也调成HIGH，NAND tree的输出就会变成LOW。

再然后将（3）Pin的输入也调成HIGH，NAND tree的输出就会变成HIGH。

如此，按照编号从小到大，直到把所有的Pin从LOW调成HIGH，你会看到NAND tree的输出呈现时钟脉冲一样的L-》H-》L-》H-》L的变化。这就说明芯片的Pin和PAD之间的连接没有问题。

否则，连接有断开的地方，就会出现某个时刻点NAND tree的输出会保持恒LOW或者恒HIGH，不会因后续Pin节点的输入变HIGH而变化。