都灵理工大学校长一行再访SPEA

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半导体

SPEA与都灵理工大学有着深厚的历史渊源,双方通过构建人才培养体系、推动融合创新、不断拓宽技术应用的边界,共同促进了自动化测试技术在半导体、MEMS传感器、电子制造等多个关键领域快速发展。

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近日,都灵理工大学校长率领代表团,再度访问SPEA总部,双方展开了一场深入且富有成效的交流。交流内容涵盖科技创新的前沿方向、人才培育新策略、机械设备制造、测试技术等。

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SPEA与都灵理工大学携手,旨在通过深化合作,培育更多电子制造测试领域的顶尖工程师,以满足该领域对专业技术人才日益增长的迫切需求。此次访问不仅为双方的联合创新奠定了坚实基础,更是教育与科技创新深度融合的一次有力实践,为学术界与前沿产业合作树立了新的标杆。

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在全球科技日新月异的浪潮中,SPEA以稳健的步伐及成熟的创新体系,保持着强劲的竞争力,依托深厚的技术底蕴和专业人才储备,稳固占据全球自动化测试市场的领先地位。展望未来,SPEA将持续精进产品与服务,为客户创造更卓越的价值,为推动产业链的繁荣与发展贡献力量。

 

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