从热失控到效率飞跃——仁懋三款MOS器件重塑储能电源设计

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在户外电源、移动储能箱等便携式设备爆发式增长的背后,工程师们正面临严峻挑战:“高功率密度、低温升、长寿命”的“不可能三角”。
 

传统封装MOS器件受限于结构设计,应用在储能应用时,普遍存在三大致命伤:

1.过流瓶颈:键合线数量不足导致动态电流超限时烧毁;  

 

 

2.散热受限:热阻(Rthja)>50℃/W,80%负载下温升超40℃; 

 

 

3. 体积束缚:封装尺寸挤占PCB空间,制约电池容量提升。 

 

 

仁懋电子TOLL封装系列(MOT6113HT/MOT8120T/MOT8125T)通过器件结构创新+工艺革命,直击上述痛点,为便携储能设备开启全新可能。 

 

 

热失控

技术突围:TOLL封装三大创新引擎

 

 

1. 多打线矩阵技术:优化电流分布,过流能力提升20% ,改善温度特性

 

 

针对瞬态浪涌电流导致的失效问题,MOT8120T采用16键合点矩阵布局(传统封装仅9-12点),通过优化电流分布路径,实现**单脉冲雪崩能量(EAS)达2176mJ,在2000W逆变器突加负载测试中,峰值电流耐受值提升至1200A(VDS=85V)。 

 

 

2. 铜夹片银烧结工艺:降低内阻、内阻,带来更好的温度特性及更低的导通损耗

 

 

MOT6113HT引入纳米银烧结+铜Clip一体成型技术,消除键合线界面热阻:

 

 

热阻(Rthjc)降至0.45℃/W,较传统工艺降低9%; 

 

 

导通电阻(RDS(on))@10V仅1.25mΩ,同等尺寸下损耗减少15%。 

 

 

3. 定制化框架设计:晶圆利用率提升25% ,提供功率密度

 

 

自主开发的TOLL-DFN5x6兼容框架,MOT8125T不仅突破传统TOLL的6. 2mm2上限,将可封装芯片面积提升至8.6mm²。而且在18V/30A工况下,输出功率密度达48W/cm³,助力1000Wh储能箱体积缩小30%。 

 

 

热失控

场景化产品矩阵

 

 

热失控

每立方厘米的能效战争”,仁懋TOLL封装以“更冷、更小、更猛”的硬核实力,正在重新定义功率器件价值标准。

热失控

 

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