驱动电路分类

单管GaN → 隔离 → 0V VGS(OFF) →隔离单管驱动电路
• 在低电压,低功率,或对死区损耗敏感的应用中,可使用 0V V GS (OFF)
• 如有需要,可应用共模电感以抑制噪声

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*附件:GaN驱动技术 氮化镓半导体功率器件门极驱动电路设计.pdf
GaN驱动技术 氮化镓半导体功率器件门极驱动电路设计 总结
一、概述
本文档详细介绍了氮化镓(GaN)半导体功率器件的门极驱动电路设计,包括GaN HEMTs与硅MOSFET的异同、常用驱动芯片、集成驱动的GaN控制芯片、驱动电路分类以及具体电路设计实例。
二、GaN HEMTs与硅MOSFET的异同
共同点
- 增强型器件:均为常闭型器件。
- 电压驱动:通过电压控制开关状态。
- 门极漏电流:只需提供较小的门极漏电流I_GSS。
- 开关速度控制:可通过改变门极电阻R_G控制开关速度。
- 驱动芯片兼容:与大部分Si MOSFET驱动芯片兼容。
差异
- Q_G:GaN HEMTs的Q_G更低,驱动损耗更小,开关速度更快。
- 跨导与V_GS:GaN HEMTs具有更大的跨导和更低的V_GS,仅需+5-6V门极偏置电压即可接通。
- V_G(th) :GaN HEMTs的V_G(th)典型值为1.5V,低于其他增强型GaN器件。
- 门极可靠性:GaN HEMTs的门极更加可靠,最大额定值为-20/+10V。
- 驱动需求:GaN HEMTs无需直流电流驱动门极,门极结构简单。
三、常用驱动芯片
文档列举了适用于GaN HEMTs的多种驱动芯片,包括隔离型和非隔离型,以及单管、半桥/全桥驱动芯片。推荐驱动电压V_DD≤12V,并提到当V_DD高于+6V时,需要负压生成电路。
四、集成驱动的GaN控制芯片
列出了多种集成驱动的GaN控制芯片,适用于反激、同步buck DC/DC、LLC、PFC等拓扑结构,强调了GaN HEMTs与大多数硅器件驱动芯片的兼容性。
五、驱动电路分类
详细分类了单管、半桥/全桥以及GaN并联应用的驱动电路,包括隔离型和非隔离型,以及是否需要负V_GS(OFF)电压的情况。
六、具体电路设计实例
单管隔离驱动电路
- 0V V_GS(OFF) :适用于低电压、低功率或对死区损耗敏感的应用。
- 负V_GS(OFF) :使用EZDrive®电路或分压电路产生负V_GS电压,增强噪声抗扰,降低关断损耗。
单管非隔离驱动电路
- 0V V_GS(OFF) :适用于单端应用或与高边浮地开关管配合使用。
- 负V_GS(OFF) :使用EZDrive®电路提供负V_GS电压。
半桥/全桥驱动电路
- 0V V_GS(OFF) :小功率应用,选用低C_J、反向恢复时间短的自举二极管。
- 负V_GS(OFF) :结合自举电路和EZDrive®,通过外部驱动电阻调节开关速度优化EMI。
并联GaN HEMT驱动电路
并联GaN HEMTs时,需在门极和源极(Kelvin Source)分别加一个1ohm电阻。
七、附录
探讨了何时需要负V_GS(OFF)电压,以及负V_GS(OFF)电压与关断损耗、零电压开通临界值、死区损耗的关系,强调了在大功率应用中精确控制死区时间的重要性。
通过以上总结,可以全面了解GaN驱动技术的要点,为氮化镓半导体功率器件的门极驱动电路设计提供参考。