概述
ADRF5731 是一款硅、4 位数字衰减器,以 2 dB 步长提供 30 dB 的衰减控制范围。
该器件的工作频率范围为 100 MHz 至 40 GHz,提供优于 3.5 dB 的插入损耗。在所有状态下,ADRF5720 的 ATTIN 端口具有 26 dBm(平均值)和30 dBm(峰值)的射频(RF)输入功率处理能力。
ADRF5731 需要 +3.3 V 和 −3.3 V 双电源电压供电。该器件具有串行外设接口(SPI)、并行模式控制和互补金属氧化物半导体(CMOS)/低压晶体管对晶体管逻辑(LVTTL)兼容控制特性。
ADRF5731 与 ADRF5721(低频截止版本)引脚兼容,工作频率范围为 9 kHz 至 40 GHz。
ADRF5731 RF 端口设计用于匹配 50 Ω 的特征阻抗。
ADRF5731 采用符合 RoHS 标准的 16 引脚、2.5 mm × 2.5 mm、基板栅格阵列(LGA)封装,工作温度范围为 −40°C 至 +105°C。
数据表:*附件:ADRF5731 2dB LSB、4位硅数字衰减器,100MHz至40GHz技术手册.pdf
应用
特性
框图
引脚配置描述
接口示意图
典型性能特征
应用信息
评估板
ADRF5731 - EVALZ是一款四层评估板。顶层和底层铜层为0.5盎司(0.7密耳),镀覆至1.5盎司(2.2密耳),中间由电介质材料隔开。该评估板的堆叠结构如图28所示。
所有射频和直流走线都布置在顶层铜层,而内层和底层为接地层,为射频传输线提供稳固的接地。顶层电介质材料为12密耳的Rogers RO4003,可提供最佳的高频性能。中间和底层电介质材料提供机械强度。电路板总厚度为62密耳,可在板边连接2.4 mm的射频连接器。
射频传输线采用共面波导(CPWG)模型设计,线宽为16密耳,与接地层间距为6密耳,特性阻抗为50Ω。为实现最佳射频和热接地效果,应围绕传输线及器件外露焊盘布置尽可能多的过孔。
直通校准可用于校准消除ADRF5731 - EVALZ评估板测量中的板损耗效应,以确定集成电路引脚处的性能。图29展示了ADRF5731 - EVALZ评估板的典型板损耗(THRU)、嵌入插入损耗以及去嵌入插入损耗。
图29展示了插入损耗与频率的关系。
图30展示了带有元件布局的实际ADRF5731 - EVALZ评估板。
两个电源端口连接到VDD和VSS测试点TP1和TP2,接地参考连接到GND测试点TP4。在电源走线VDD和VSS上,使用一个100 pF的旁路电容来滤除高频噪声。此外,还有未安装元件的位置,可通过添加元件来应用额外的旁路电容。
所有数字控制引脚通过数字信号走线连接到2×9引脚接头P1。设有一个电阻电容(RC)滤波器,有助于消除直流耦合噪声。在评估ADRF5731时,评估板上未安装外部RC滤波器,此时串联电阻为0Ω,并联电容未安装。
射频输入和输出端口(ATTIN和ATTOUT)分别通过50Ω传输线连接到2.4 mm射频连接器J1和J2。这些高频射频连接器通过接触连接,未焊接到板上。
一条直通校准传输线J3和J4未安装元件。这条传输线用于评估环境条件下估算印刷电路板的损耗,ADRF5731 - EVALZ评估板的示意图如图31所示。
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