芯科科技如何构建Sub-GHz Wi-SUN FAN测试网络

在无线通信迅速发展的时代，Wi-SUN技术因其支持大规模、低功耗、高可靠性的网状网络能力而脱颖而出。作为Wi-SUN标准解决方案的领先供应商，Silicon Labs（芯科科技）构建并维护着业内独一无二的大型自研Sub-GHz Wi-SUN FAN测试网络，致力于严谨而全面的测试工作。测试网络对于深入理解Wi-SUN性能并为真实应用场景进行优化至关重要。本文将深入探讨建设此类网络的目标，以及衡量其性能效果的关键指标。

事实上，芯科科技此前已成功部署大规模Zigbee与Z-Wave网状网络，并具有用于电子货架标签（ESL）测试的数百个低功耗蓝牙（Bluetooth LE）节点的测试网络基础，我们积累了宝贵的学习经验，并将这些知识应用于当前的 Wi-SUN测试网络中。该网络包含了1,000个Sub-GHz网状节点，充分展现我们在推动无线通信技术发展方面的承诺。凭借跨协议的深厚积累，芯科科技将持续创新，打造更加智能、无缝连接的世界。

大规模 Wi-SUN 测试网络的目标

在实验室中构建一个大规模的Wi-SUN测试网络，首要目标是通过展示这种规模的强大内部网络，增强客户信心。这使我们能够在接近真实环境的网络规模中测试各种行为和功能。性能评估是关键环节，需在多种条件下评估网络表现，确保其满足延迟、连接时间和可扩展性方面的服务等级协议（SLA）要求。同时，可靠性测试同样重要，确保网络在复杂环境下仍能保持稳定连接并高效传输数据。

另一个关键目标是可扩展性分析，以了解网络在连接设备数量不断增加时的表现。这对智能抄表、智慧路灯等应用至关重要。电池寿命优化也是重中之重，需评估网络运行对电池寿命的影响，确保设备可长时间运行而无需频繁充电。最后，干扰管理同样关键，必须验证网络能否与其他无线技术共存并最大程度减少干扰。

Wi-SUN 网络测试：性能指标

为了实现上述目标，我们实施了多项关键性能测量。延迟测试用于测量数据在网络中从一个节点传输到另一个节点所需的时间，包括使用IPv6 ping 功能的往返延迟测试。连接时间评估则关注设备加入网络并建立稳定连接所需的速度。我们还测量了数据传输中的数据包错误率，以评估传输可靠性。路由性能指标方面，我们分析了低功耗有损网络路由协议（RPL）的效率，以确保数据路径管理合理，路由优化到位。最后，通过持续关注延迟和可靠性表现，测试网络在设备规模扩张下的可扩展性。

Wi-SUN 测试网络的实现方式

Wi-SUN测试网络的实现涉及几个关键组件。节点中嵌入了监控应用程序，每五分钟发送一次数据。通过图形用户界面（GUI），可以直观地查看节点行为、连接状态和可用性。

正在实现的典型功能包括：

Direct Connect工具：允许设备直接连接到节点，便于调试和信息恢复。

pan_defect功能：当由电池供电的边界路由器（Border Router）即将断电时，会提前通知节点以便其自动切换至其他路由

preferred_pan功能：实现边界路由器之间的负载分担，同时支持节点在故障恢复后自动回到首选的边界路由器。

Wi-SUN 测试的下一步

未来的测试重点将转向低功耗有限功能节点（LFN），也称为叶子节点（leaf nodes），这些设备主要由电池供电。通过整合市电供电设备与电池供电的传感器节点，测试网络将能更好地评估复杂系统配置，确保统一系统的无缝运行。

建设Wi-SUN实验室的价值

在实验室中建立大规模Wi-SUN测试网络，是推动无线通信技术发展的关键步骤。通过深入评估延迟、连接时间、数据包错误率、路由效率和可扩展性等性能指标，研发人员可以进一步优化Wi-SUN 网络，满足各种智能基础设施的应用需求。这确保了Wi-SUN 技术具备强大、可靠的能力，应对现代智能场景的挑战。