分立器件测试晶体管图示仪静态/动态参数SC2010半导体测试系统

SC2010半导体分立器件测试系统

一、系统定位

作为STI5000系列测试机的国产化替代方案，SC2010系统实现了：

全自动I-V特性曲线生成

可编程功能测试模块

实时数字化结果显示

二、核心性能

测试效率

单点测试时间：6-20ms

百点曲线生成：＜5s

数据接口：USB3.0/RS232双模

安全保障

门极过压保护（OVP）

自诊断测试代码系统

实时状态监测

三、技术参数矩阵

指标项参数范围分辨率测试电压0-2000V1mV测试电流0-100A0.1nA测试精度0.2%+2LSB-脉冲宽度300μs-5ms-

四、应用场景

工业领域

封装产线QC检测

器件失效分析

组合器件测试

科研领域

高校实验教学

研究所参数研究

新型器件开发

五、数据管理

输出格式：Excel/Word双格式

分析工具：ATE专业软件

曲线精度：逐点校准技术

审核编辑 黄宇