Analog Devices Inc. ADAQ4380-4四通道精密DAQ数据手册

Analog Devices ADAQ4380-4四通道精密数据采集（DAQ）是一套信号链 μ模块®
解决方案，可缩短精密测量系统的开发周期。该解决方案将优化、元件选择和布局的信号链设计挑战从设计人员转移到器件。

数据手册：*附件：Analog Devices Inc. ADAQ4380-4四通道精密DAQ数据手册.pdf

ADAQ4380-4采用系统级封装（SIP）技术，将多个常见信号处理和调理模块集成到单个器件中，从而减少了终端系统元件数量。这些模块包括四通道、高分辨率16位、4MSPS同步采样SAR
ADC、低噪声、全差分ADC驱动器放大器、3.3V精密电压基准、低噪声缓冲放大器和低压差线性稳压器。

Analog Devices
ADAQ4380-4具有片上过采样模块，可在较低带宽下改善动态范围并降低噪声。过采样可提高高达2位的附加分辨率。它提供可配置ADC驱动器反馈环路的灵活性，支持四种增益和衰减调整，并接受全差分或单端至差分输入配置。

转换结果可以同时通过4线模式进行时钟输出，以获得更快的吞吐量，或者在允许较慢的吞吐量时通过1线串行模式进行时钟输出。ADAQ4380-4采用单独的逻辑电源，与1.8V、2.5V和3.3V接口兼容，额定工作温度范围为−40°C至+105°C。

特性

• 易于使用的μModule数据采集系统
  • 对比分立式解决方案，占位面积减少11倍
  • 集成关键无源元件
  • 5V单电源运行
• 确保16位无失码
• 片上过采样功能
• 2位分辨率升压
• 超出范围指示器（警报）
• INL：±0.6LSB（典型值），±2LSB（最大值）
• SNR（典型值）
  • 91.0dB（增益=1.0，fIN =1kHz时）
  • 97.8dB（OSR=x8，增益=1.0，~fIN~ =1kHz时）
• 通道间相位匹配：0.005°（典型值，fN =20kHz时）
• 集成高精度基准，3ppm/°C典型漂移
• 增益误差：0.005%（典型值）
• 增益漂移：0.8 ppm/°C（典型值）
• 集成内部缓冲器，具有VCM生成功能
• 集成全差分ADC驱动器，具有信号调节功能
  • 宽输入共模电压范围
  • 高共模抑制
• 单端至差分转换
• 引脚可选输入范围（带超范围）
  • 输入范围：±2V、±3.3V、±5.5V、±11V
  • 增益/衰减：G = 0.3、0.6、1.0和1.6
• 高速串行接口
• 8mmx8mm、0.8mm脚距、81焊球CSP_BGA封装

应用

• 实验室级电池测试系统
• 电机控制电流检测
• 电机控制位置反馈
• 声纳
• 电力质量监控
• 数据采集系统
• 掺饵光纤放大器（EDFA）应用
• I和Q解调

简化框图

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