Analog Devices Inc. ADMX2001B阻抗分析仪测量模块特性/应用/布局

Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析仪测量模块简化了阻抗测量系统的开发，也可用于增强现有测试平台的功能。ADMX2001B采用高性能混合信号和处理算法，可测量小至0.1fF的电容变化，电阻值高达1GΩ，通常用于测试半导体器件、电子元件和传感器。此外，得益于内置测量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能够提供各种格式的完全校准的复杂阻抗或导纳测量结果，其中包括电阻、电容和电感的并联和串联组合。

特性

• 复杂阻抗测量：0.2Hz至10MHz
• 高吞吐量
  • 测量时间：2.7ms
• 基本相对精度：0.05%
• 宽测量范围
  • 电阻范围：100μΩ至1GΩ
  • 电容范围：100aF至10F
  • 电感范围：10pH至100H
• 可编程测试信号
  • 16位幅度调整高达2.4V
  • 频率分辨率：0.2Hz
  • 16位直流偏置设置高达±2.4V
• 直流电阻测量
• 18种阻抗测量格式，用于C、R、L、Z和Y
• 自动多点和参数扫描
• 校准和夹具补偿功能
  • 自动校准例程，用于测量可追溯性
  • 非易失性存储器中的校准系数存储
  • 补偿消除了夹具寄生效应

应用

• 自动化测试设备
• 半导体特性
• 晶圆验收测试
• 电阻抗频谱分析
• 阻抗网络分析
• 电池测试

板布局