电子常识
为了评价产品寿命特征的试验,叫做寿命试验。寿命试验是在生产过程比较稳定的条件下,剔除了早期失效产品后进行的试验,通过寿命试验可以了解产品寿命分布的统计规律。寿命试验可以分为贮存寿命试验、工作寿命试验、加速寿命试验。
贮存寿命试验:产品可靠性测试在规定的环境条件下进行非工作状态的存放试验,叫贮存试验。
贮存试验条件通常为室内、棚下、露天等,因此贮存的环境试验方法又称天然暴露试验。贮存试验的样品处于非工作状态。
贮存试验需要较多的试验样品和长期的观察测量,才能对产品作出较好的预计和评价。为缩短试验时间可以进行贮存的加速试验,加速贮存试验常用高温贮存来实现。
工作寿命试验:产品在规定的条件下作加负荷的试验,叫工作寿命试验。寿命试验分为连续工作寿命和间断工作寿命试验。连续工作试验还分为静态连续工作和动态连续工作试验两种。间断工作寿命试验的特点是周期性的工作和停止工作,动态连续工作是不间断的连续工作。
加速寿命试验:为缩短试验时间节省样品与试验费用,快速的评价产品的可靠性,就需要作加速寿命试验;另外由于当前工艺水平的提高,常规试验方法以很难判定产品杜可靠性水平,因此也需要采用加速寿命试验方法;第三点产品的更新速度太快,常规试验时间赶不上产品淘汰速度,只能采用加速寿命试验方法或其他的方法判定产品的可靠性水平加速寿命试验方法有恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验、序进应力加速寿命试验。
进行寿命试验设计时要考虑如下的问题:
1. 试验条件及失效判据标准要确定;
2. 试验样品的选取及抽样数;
3. 试验的测试项目及测试设备;
4. 试验的测试周期及截至时间的确定;
5. 试验结果的数据处理方法。
除了以上寿命试验的要考虑的问题外,加速试验方法还要注意以下要求:
a) 提高试验的应力条件,应力条件主要有环境应力和电应力;
b) 可靠性测试满足寿命试验的失效机理,但不能增加新的失效机理。
高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。
HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序,而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划,需要重复进行几次,除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。试验的主要功能如下:
1.利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;
2. 了解产品的设计能力及失效模式;
3. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考;
4. 快速找出产品制造过程的瑕疵;
5. 增加产品的可靠性,减少维修成本;
6. 建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并缩短设计制造周期。
a.消除设计缺陷,大大提高设计可靠性,确保能获得早期高可靠性,使设备具有高的外场可靠性;
b.大大减少鉴定试验时的故障,经过HALT的产品,鉴定试验已不重要,仅是一种形式而已;
c.降低寿命周期费用;
d.能确切了解工作极限和损坏极限,为制定HASS方案,确定应力量级提供依据。
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