新增型号!40mm大工作距离光谱共焦位移传感器为影像仪检测赋能

描述

光谱

深视智能重磅发布光谱共焦位移传感器SCI系列全新型号 SCI04020,这是高要求及严苛环境下精密测量的突破性升级,在影像仪检测等需要大工作距离的场景中表现突出,切实解决碰撞风险痛点。

 

 核心参数,精准可靠 




 

突破性40mm工作距离

 

在明星型号SCI04025的基础上,SCI04020点光谱共焦位移传感器将工作距离大幅提升至40mm,让传感器探头与被测物体保持安全距离,在影像仪等设备快速移动或进行复杂姿态测量时,可有力避免物理碰撞,为昂贵设备和精密工件提供可靠保护。

 

0.8μm超高线性精度

 

在40mm超长工作距离下,SCI04020点光谱共焦位移传感器仍保持0.8μm线性精度,性能优于行业同类产品,确保测量结果的精准性。

 

3路差分编码器同步输入

光谱

集成3路差分编码器输入,凭借强大的多轴运动同步能力,可与运动平台无缝对接,实现高精度位置同步触发测量,为复杂轨迹扫描、多维度测量提供坚实支撑。

 

大小光斑自由切换

 

16μm/32μm双光斑智能适配,复杂材质测量不再受限制。大光斑可增强粗糙表面或透明材料的信号稳定性,小光斑则精准适配精密零件边缘检测,轻松应对高反光、低光泽等复杂材质。

光谱



 

 典型应用场景:影像仪设备检测 

光谱

影像仪在扫描深孔、复杂曲面时,传统传感器常因工作距离不足,导致探头容易与工件棱角、治具发生碰撞,轻则划伤探头,重则损毁精密工件,停机检修还可能延误生产周期,这是行业普遍存在的痛点。

 

SCI04020给出完美解决方案

 

 高效扫描:33kHz高速采样与多轴编码器协同工作,实现复杂轨迹的快速测量。

 安全检测:40mm工作距离提供充足操作空间,有效避免碰撞风险。

 材质兼容:双模式光斑搭配超强感光算法,能稳定检测高反光金属、透明玻璃等多种材质。

 

 场景延伸:不止于影像仪设备 

光谱

依托自研超强感光算法与定制超亮光源的深度协同,深视智能SCI04020点光谱共焦位移传感器能精准捕捉微小段差或薄膜厚度波动,满足半导体、3C电子、精密模具等领域的严苛检测标准。

半导体行业
适用于高反光、漫反射等复杂表面测量光谱光谱
高端制造对工作距离和防碰撞有高要求的自动化在线检测场景精密模具
 

精密零部件尺寸与形貌检测(如深孔/凹槽/阶梯面)

光谱光谱
光学镜片

适用于透明/半透明材料厚度测量

在工业精密测量领域,工作距离与精度的平衡始终是技术难点。深视智能全新型号SCI04020光谱共焦位移传感器突破性实现40mm超长工作距离与0.8μm超高线性精度的结合,为大工件检测的安全与精准树立了新标杆。

 

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