德州仪器TPS274C65EVM评估模块技术解析

描述

Texas Instruments TPS274C65EVM评估模块可评估TPS274C65工业高侧开关的功能和性能。该模块包含用于实现SPI通信的BoosterPack™插件模块引脚和一个板载3.3V降压转换器,可实现外部VDD 和更低的器件 IQ。 TPS274C65EVM支持TPS274C65的AS和BS版本。该模块具有板载反向电流阻断 (RCB) FET,用于演示反向电流阻断驱动器功能(AS版本)。

数据手册:*附件:Texas Instruments TPS274C65EVM 驱动评估模块用户指南.pdf

特性

  • 板载支持TPS274C65的AS和BS版本
  • 适用于SPI通信的BoosterPack插件模块引脚
  • 板载3.3V降压转换器,可实现外部VDD 和更低的器件IQ~~
  • 用于可寻址SPI地址配置的板载DIP开关
  • 带有电位计或固定电阻的模拟传感配置
  • AS版本:
    • 板载LED用于演示LED驱动功能
    • 反向电流阻断(RCB)FET用于演示反向电流阻断驱动器功能

电路图

降压转换器

德州仪器TPS274C65EVM评估模块技术解析

一、核心特性

  • 兼容TPS274C65AS/BS两种版本
  • 集成3.3V降压转换器(LMR36506)
  • 支持SPI通信接口(最高10MHz时钟速率)
  • 配备BoosterPack™插件模块接口
  • 提供LED驱动演示功能(AS版本)
  • 集成反向电流阻断(RCB)FET演示电路

二、硬件架构解析

1. 电源管理子系统

  • 主电源输入‌:VS引脚(2.8V-5.5V)
  • 辅助电源‌:VDD_IC引脚(通过内部LDO或外部供电)
  • 集成DC/DC‌:LMR36506提供3.3V/500mA输出
  • 电源配置选项‌:
    • J1跳线选择板载/外部Buck转换器
    • J13跳线控制内部LDO使能

2. 开关输出通道

  • 4路独立输出‌:每路支持最大2A连续电流
  • 保护机制‌:
    • 可编程电流限制(1.5A-4A)
    • 集成温度保护(150°C关断)
    • 短路响应时间<1ms
  • AS版本特有功能‌:
    • 板载LED驱动电路(R1/R5需焊接)
    • RCB FET驱动功能(J19-J22跳线控制)

三、通信接口设计

1. SPI控制接口

  • 物理接口‌:通过J5/J10 BoosterPack连接器扩展
  • 关键信号‌:
    • SCLK(最大10MHz)
    • SDI/SDO(49.9Ω阻抗匹配)
    • CS(低电平有效)
  • 工作模式‌:
    • 地址模式(默认):通过SW1 DIP开关配置地址
    • 菊花链模式:需配置DSPI引脚为高

2. 配置选项

  • ADDCFG设置‌:8位DIP开关对应不同电阻值(13.3kΩ-110kΩ)
  • Jumper配置‌:
    • J17/J18:SPI数据流向选择
    • J15:DSPI模式选择
    • J14:手动控制信号覆盖

四、典型应用场景

1. 工业控制系统

  • PLC数字输出模块
  • 传感器电源管理
  • 执行器驱动电路

2. LED照明控制

  • 建筑照明系统
  • 工业指示灯驱动
  • 背光调节电路

3. 电源分配系统

  • 智能配电单元
  • 电子保险丝应用
  • 电源序列控制

五、设计注意事项

1. 版本兼容性

特性AS版本BS版本
SPI接口支持支持
LED驱动支持不支持
RCB功能支持不支持
集成ADC支持不支持

2. PCB布局建议

  1. 功率回路‌:保持VIN_Bx→CIN→PGND_Bx路径<5mm
  2. 热设计‌:充分利用底部热焊盘(推荐4×0.3mm过孔阵列)
  3. 信号隔离‌:
    • FB走线远离高频开关节点
    • 敏感模拟信号采用屏蔽走线

3. 保护功能配置

  • 电流限制‌:通过SPI寄存器可编程设置
  • 故障诊断‌:
    • 全局FAULT输出引脚
    • SPI可读取详细故障信息
  • 热管理‌:两级温度监控(125°C警告/150°C关断)

六、评估流程建议

  1. 硬件准备阶段‌:
    • 根据版本选择焊接R1/R5(AS版本必需)
    • 配置J19-J22跳线启用/禁用RCB功能
    • 设置SW1 DIP开关确定SPI地址
  2. 基础功能测试‌:
    • 验证各通道开关功能
    • 测试PWM调光性能(AS版本)
    • 评估RCB响应特性(AS版本)
  3. 系统集成测试‌:
    • 通过BoosterPack连接MCU
    • 开发SPI控制固件
    • 验证故障诊断功能
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