在顶层,SMPS 使用 FET 作为快速开关器件,以有效地为负载供电。FET 开关由栅极驱动 IC 控制,这些 IC 通过监控电源输出的控制电路来响应负载变化。尽管传统的硅基金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 通常用于 SMPS 应用,但这些设计仍然存在重大损耗。造成这些损耗的主要因素是导通、开关和反向恢复。凭借其卓越的电子迁移率和热特性,GaN 技术为工程师提供了新的机会,可以提高电源设计的效率,同时减小整体尺寸。
更低的导通损耗
GaN FET 的工作原理与 MOSFET 类似。然而,它们的热特性和高电子迁移率路径使这些损失最小化。GaN FET 最显着的特性之一是其显着降低的漏源电阻 (R DS(on) )。当 FET 处于饱和模式时,功率以热量的形式消散。以下方程描述了这种关系:
因此,使用 GaN FET,当它们处于饱和模式时,以热量形式损失的功率更少。顺便说一句,GaN 器件的导通损耗类似于双极结型晶体管 (BJT) 器件的导通损耗。
开关损耗
功率损耗也是 FET 开关过程的结果。这些损耗是由于输入电容 (C iss ) 和打开和关闭 FET 所需的电荷量(也称为栅极电荷 (Q g ))以及栅极和源极端子之间的电压 (V GS ) 造成的。以下公式与这些参数相关:
当 FET 的栅极充电和放电时,开关功率损耗 (P sw ) 以热量的形式发生。该公式可以近似于此:
GaN FET 具有较小的输入电容,因此栅极电荷较少。高开关频率 (f sw ) 降低了开关损耗,有助于提高整体效率(见图 1)。
反向恢复损失
GaN FET 的反向恢复损耗为零。在硅基 MOSFET 中,由于体二极管位于 P 或 N 沟道结点,因此会产生反向恢复损耗。当 MOSFET 从正向偏置(导通)转换为反向偏置(非导通)时,会产生损耗。这是每个二极管的寄生特性,是二极管中状态之间存储电荷的结果。由于 GaN FET 没有体二极管,因此消除了这些损耗。