‌LM3559同步升压闪光驱动器技术文档总结

LM3559 是一款 2 MHz 固定频率同步升压转换器，具有两个用于大电流白光 LED 的 900 mA 恒流驱动器。双高侧电流源允许接地阴极 LED 工作，并且可以连接在一起以提供高达 1.8 A 的闪光电流。自适应调节方法可确保每个 LED 的电流保持稳压并最大限度地提高效率。
*附件：lm3559.pdf

LM3559 通过 I 控制^2^C 兼容接口。功能包括：用于监控 LED 电压的内部 4 位 ADC、独立的 LED 电流控制、允许逻辑输入触发闪光脉冲的硬件闪存、强制闪光脉冲进入低电流割炬模式的双 TX 输入，允许与射频功率放大器事件或其他高电流条件同步、集成比较器，用于监控 NTC 热敏电阻并为 LED 电流提供中断， 用于监控低电池状态的输入电压监控器，以及用于在低电池电压条件下主动监控电池电压并优化闪光电流的闪光电流缩减功能。此外，高电平有效HWEN输入在系统软件故障期间提供硬件关断。

2 MHz开关频率、过压保护和可调电流限制允许使用微型薄型（1 μH或2.2 μH）电感器和（10 μF）陶瓷电容器。该器件采用超小型 16 引脚 DSBGA 封装（解决方案总尺寸 < 26 mm ^2^ ），工作温度范围为–40°C至+85°C。

特性

• 双高侧电流源允许接地阴极LED工作
• 28.125 mA 至 1.8 A 的精确且可编程的 LED 电流
• 低电池条件下优化闪光电流
• 独立的 LED 电流源可编程性
• 四种作模式：手电筒、闪光灯、隐私指示和消息指示灯
• V 的 4 位模数 （ADC）LED的监测
• 电池电压检测和电流缩减
• LED检测和电流缩放
• 硬件闪存和手电筒启用
• /硬件复位
• 用于RF功率放大器脉冲事件的双同步输入
• 关断期间 LED 和输出断开
• LED 开路和短路检测
• 400 kHz I^2^C 兼容接口

参数

方框图

‌1. 产品概述‌
LM3559是德州仪器（TI）推出的高性能白光LED闪光驱动芯片，主要面向手机摄像头闪光灯、白光LED偏置等应用。其核心特性包括：

• ‌双路高边电流源‌：支持两路独立控制的900mA驱动（总电流1.8A），允许LED阴极接地设计。
• ‌精准可编程电流‌：闪光模式电流范围28.125mA至1.8A，支持4种工作模式（闪光、常亮、隐私指示、消息指示）。
• ‌自适应调节‌：通过I²C接口控制，集成4位ADC监测LED电压，优化低电量条件下的闪光性能。
• ‌保护功能‌：包括LED开路/短路检测、电池电压监测、热关断及过压保护（OVP）。

‌2. 关键特性‌

• ‌输入电压范围‌：2.5V至5.5V，适用于单节锂离子电池应用。
• ‌开关频率‌：2MHz固定频率同步升压转换器，支持小尺寸电感和陶瓷电容（1µH电感，10µF电容）。
• ‌控制接口‌：400kHz I²C兼容接口，支持寄存器配置闪光/常亮电流、模式切换及故障标志读取。
• ‌封装‌：超小16引脚DSBGA（1.96mm × 1.96mm），工作温度-40°C至+85°C。

‌3. 功能模式‌

• ‌闪光模式‌：通过STROBE硬件引脚或I²C触发，支持32ms至1024ms可调闪光时长。
• ‌常亮模式‌：低电流持续照明，电流独立可编程。
• ‌隐私指示‌：PWM调光（10%-80%占空比）用于低功耗状态指示。
• ‌NTC模式‌：通过外部热敏电阻监测LED温度，超温时自动降级或关闭。

‌4. 保护与监控‌

• ‌电压监测‌：输入欠压时自动切换至常亮或关闭，支持阈值编程（2.9V-3.2V）。
• ‌热管理‌：150°C热关断，135°C恢复；NTC比较器提供LED温度中断。
• ‌故障标志‌：包括闪光超时、LED故障、输入电压异常等，通过Flags寄存器读取。

‌5. 应用设计要点‌

• ‌外围元件‌：推荐1µH/2.2µH电感（如TOKO FDSD0312系列）、10µF陶瓷输入/输出电容（Murata GRM188系列）。
• ‌布局建议‌：输入/输出电容需贴近芯片引脚，SW节点需最小化面积以减少噪声耦合。
• ‌NTC电路‌：热敏电阻分压电路需靠近LED阴极，并添加滤波电容抑制开关噪声。

‌6. 寄存器配置‌

• ‌关键寄存器‌：Enable（模式控制）、Flash Brightness（电流设置）、Flags（故障状态）、Configuration（功能配置）。
• ‌编程示例‌：通过I²C设置Flash Duration寄存器调整闪光时长，或通过Indicator寄存器配置消息指示灯的闪烁模式。

‌7. 典型性能‌

• ‌效率‌：典型值达95%（双LED，450mA电流，输入电压3.6V）。
• ‌封装热阻‌：结到环境热阻（RθJA）71.3°C/W（4层板测试条件）。