【圆满收官】第六届光电子集成芯片立强大会，中星联华助力光电子集成芯片测试更添精彩！

 

2025年8月30日-8月31日第六届光电子集成芯片立强大会在湖北省武汉市举办并顺利召开！

作为备受瞩目的行业盛会，本次大会聚焦光芯片、电芯片、人工智能、光器件、激光通信等热点话题及最新科技研发成果和进展。

 

作为光电子集成芯片测试领域知名企业，中星联华科技（北京）股份有限公司受邀参加本次展会。

盛会汇聚众多业内专家以及技术领先企业，进一步推动光电子与交叉领域的技术交流、产业链合作和人才培养，展示光电子集成芯片材料、器件、工艺平台、仿真设计、封测技术及其在光通信、数据中心、高性能计算、多维光存储和光成像、光显示与光传感等领域的应用。

 

大会邀请华中科技大学、山东大学、国家信息光电子创新中心、鹏城实验室、浙江大学、中国科学院、清华大学、南京大学、东南大学、上海交通大学等单位代表莅临。

 

 

现场热况

中星联华展出光芯片测试、光模块测试、电芯片测试、Serdes芯片测试、光压力眼测试等专业技术方案，本次会议与现场嘉宾、观众进行了深度交流，为现场的观众提供了专业的解答。

中星联华展出的高性能注抖加噪误码仪、高速率误码仪、超低相噪信号源、双音信号源等产品及光电芯片测试、Serdes芯片测试，光模块测试等方案备受关注。

 

 

 

中星联华展示的产品吸引了众多观众前来交流，在现场同事们专业的讲解下，客户对我司的核心产品和解决方案产生了浓厚的兴趣，希望后续可以与我司进行深入了解与交流，并一起探寻业务合作的机会。

 

 

中星联华高性能误码仪

产品特色：

模块化：多通道灵活配置，单机支持32发32收

高速率：1G-120Gbps，数据速率灵活可调

压力眼：注抖加噪，让信号拥有72般变化

UDP：最大可支持16Gbit超长用户自定义码型

 

中星联华高性能误码分析仪具有模块化设计、灵活的通道配置、高速率、注抖加噪创建压力眼信号、超长用户自定义码型等业内领先的核心技术，可用于高速Serdes芯片和高速接口、光芯片、光器件、光模块、光传输、高速互连等领域苛刻的测试。

 

中星联华超低相噪信号源

 

频率范围:5kHz~67GHz

超低相位噪声:

<-132dBc/Hz(@10GHz,10kHz偏移,典型值)

最大输出功率：≥+18dBm（@20GHz，典型值）

支持多通道输出，支持双音信号输出

谐波抑制：＜-55dBc（@100MHz~2GHz）

非谐波抑制：＜-80dBc（@10GHz）

代码兼容，支持业内主流SCPI命令

高度集成，体积小巧，操作简单

 

 

 

本次盛会已圆满结束，中星联华此行收获满满。未来，中星联华将继续深化与国内外同行的交流与合作，共同推动光电子产业向前发展。

我们期待来年再见！