Texas Instruments TLV18xx/TLV18xx-Q1双通道微功耗比较器是一个40V单通道、双通道和四通道比较器系列，具有多个输出选项。该器件提供推挽或开漏输出版本的轨到轨输入。TLV18xx/TLV18xx-Q1具有理想的速度功率组合，具有420ns传播延迟、2.4V至40V全范围电源电源，以及每通道5µA静态供电电流。

数据手册：

*附件：TLV181x和TLV182x数据表.pdf

*附件：TLV181x-Q1和TLV182x-Q1数据表.pdf

TI TLV18xx/TLV18xx-Q1双通道微功耗比较器包括上电复位 (POR) 功能，确保在最小电源电压已经达到之前，在输出响应输入之前，输出一直处于已知状态。该POR从而防止系统上电和断电期间出现错误输出。

TLV181x/TLV181x-Q1比较器具有推挽式输出级，能够灌/拉毫安级电流，同时可对LED进行控制或驱动容性负载（例如MOSFET栅极）。

TLV182x/TLV182x-Q1比较器具有开漏输出级，可在独立于比较器电源电压的情况下上拉至40V。

特性

• 宽电源电压范围：2.4V至40V
• 轨到轨输入
• 上电复位 (POR)，用于已知启动
• 500μV输入偏移低电压
• 典型传播延迟：420ns
• 每通道低静态电流：5µA
• 150FA低输入偏置电流
• 开漏输出选项 (TLV182x)
• 推挽式输出选项 (TLV181x)
• 完整温度范围：-40°C至+125°C
• 2kV ESD保护
• 支持功能安全
• 来辅助功能安全系统设计的文档

TLV18xx 方框图

TLV181x/TLV182x系列40V轨至轨输入比较器技术解析

一、产品核心特性

TLV181x/TLV182x是德州仪器(TI)推出的40V轨至轨输入比较器家族，提供推挽(TLV181x)和开漏(TLV182x)两种输出选项，具有以下突出特性：

• ‌宽电压范围‌：2.4V至40V供电，兼容工业/汽车应用
• ‌超低功耗‌：每通道静态电流仅5μA(典型值)
• ‌高速响应‌：420ns典型传播延迟
• ‌精密性能‌：500μV低输入偏移电压，150fA输入偏置电流
• ‌增强可靠性‌：
  • 集成上电复位(POR)电路
  • 2kV ESD保护
  • 功能安全认证支持(-40°C至+125°C)

二、关键技术创新

1. 轨至轨输入架构

采用独特的输入级设计，允许输入信号在(V-)-0.2V至(V+)+0.2V范围内工作，消除了传统比较器的输入共模限制。内部包含：

• 电源钳位保护电路
• 5kΩ等效电阻的ESD软钳位
• 温度补偿偏置网络

2. 输出级设计差异

• ‌TLV181x推挽输出‌：
  • 可直接驱动LED/MOSFET栅极
  • 灌/拉电流能力达±15mA(最大值)
  • 输出摆幅接近供电轨(V-至V+)
• ‌TLV182x开漏输出‌：
  • 支持独立上拉电压(最高40V)
  • 漏极耐压42V(绝对值)
  • 适合电平转换和线或逻辑

3. 上电复位(POR)保护

集成200μs延时电路，确保：

• 电源低于2.4V时强制输出已知状态
• 电源上升期间避免错误触发
• 推挽版输出保持低，开漏版保持高阻

三、PCB布局要点

1. ‌电源去耦‌：
   • 每器件配置0.1μF陶瓷电容
   • 尽量靠近VCC引脚放置
   • 厚铜层降低阻抗(≥2oz)
2. ‌热管理‌：
   • 功率器件距IC>20mm
   • 热焊盘连接至地层
   • 四通道WQFN封装θJA=53.8°C/W
3. ‌信号完整性‌：
   • 差分走线严格等长
   • 敏感节点添加屏蔽
   • 长走线端接匹配电阻

四、选型对比指南

参数	TLV181x推挽	TLV182x开漏	竞争优势
输出配置	主动驱动	需上拉	灵活适应不同逻辑电平
传播延迟	420ns	450ns	高速事件检测
功耗	7.5μA	6.5μA	电池供电首选
封装选项	6种	6种	从SC70到WQFN全兼容