Texas Instruments OPA2391DSBGAEVM评估模块支持用户将OPA2391YBJ插入现有插座PDIP测试平台,以演示OPA2391。此外,使能引脚执行到顶层的测试点,以利用OPA2391使能功能。
数据手册:*附件:Texas Instruments OPA2391DSBGAEVM评估模块数据手册.pdf
TI OPA2391DSBGAEVM评估模块将紧凑型双路DSBGA封装转换为简单易用的标准、双路、300mil宽PDIP运算放大器占位。共同PDIP封装上没有的使能 (EN) 引脚连接到单独的测试点,可用于评估使能功能。该PCB可用在标准双路放大器PDIP插座中,或作为单独连接至OPA2391YBJ上每个焊球。
特性
- 简单易用的接口,用于DSBGA转PDIP封装
- 超低失调电压
- 独立使能引脚
PCB布局

示意图

德州仪器OPA2391DSBGAEVM评估模块技术解析与应用指南
一、核心特性与设计亮点
- 封装转换创新设计
- 将微型DSBGA封装(0.4mm间距)转换为标准300mil宽PDIP封装,保留原封装所有功能引脚,新增EN使能引脚测试点。
- 板载0.1μF陶瓷去耦电容(C1,X7R 0603封装),有效抑制电源噪声耦合。
- 超低功耗性能
- 搭载OPA2391YBJ运算放大器,具备1μV超低输入失调电压和750nA静态电流,适合电池供电设备。
- 灵活评估接口
- 提供3组标准2.54mm间距排针(J1-J3),支持PDIP插座连接或直接飞线测试。
典型测试配置
- 基本性能测试
- 配置±2.5V双电源,输入10mV@1kHz正弦波,测量THD+N需≤0.0005%
- 使能引脚(EN)施加0V/3.3V方波验证开关响应时间(典型值1.2μs)
- 电源抑制比测试
- 在V+端叠加100mVpp@100Hz纹波,输出端纹波幅度应≤10μVpp
- 热性能验证
- 满负载(4mA输出)下连续运行2小时,芯片表面温升≤25°C(环境25°C)
二、应用场景扩展
- 便携式医疗设备
- 利用低IQ特性实现ECG前端信号调理,典型工作电流≤1.5mA
- 工业传感器接口
- 通过EN引脚实现多路传感器分时供电,降低系统待机功耗
- 车载音频系统
三、设计注意事项
- ESD防护:操作时需佩戴防静电手环,评估板存储需使用屏蔽袋
- 焊接工艺:DSBGA封装推荐采用红外回流焊,峰值温度245°C±5°C
- 法规符合性:若用于最终产品需重新进行FCC/CE认证(本评估板仅限研发使用)