UCC21737-Q1 汽车级SiC/IGBT隔离栅极驱动器技术解析

描述

Texas Instruments UCC21737-Q1单通道栅极驱动器是一款电流隔离式栅极驱动器,设计用于工作电压高达2121V DC的SiC MOSFET和IGBT,具有先进的保护特性、同类最佳的动态性能和稳健性。该器件具有高达 ±10A的峰值拉电流和灌电流。

数据手册:*附件:Texas Instruments UCC21737-Q1单通道栅极驱动器数据手册.pdf

采用SiO2 电容隔离技术实现输入侧与输出侧隔离。该特性支持高达1.5kVRMS 的工作电压和12.8 kVPK 的浪涌抗扰度,以及超过40年的隔离栅使用寿命。它还具有低零件间偏移和大于150V/ns的共模噪声抑制(CMTI)。

Texas Instruments UCC21737-Q1具有先进的保护特性,例如快速过流和短路检测、故障报告和分流检测支持。它还配有源米勒钳位以及输入和输出侧电源UVLO,以优化SiC和IGBT的开关特性和稳健性。ASC功能可用于在系统出现故障时强制打开电源。该特性提高了驱动器的多功能性,有助于简化系统设计,降低尺寸和成本。

特性

  • 5.7kVRMS 单通道隔离式栅极驱动器
  • 具有符合AEC-Q100标准的下列结果:
    • 环境工作温度范围:-40°C至+150°C(器件温度0级)
    • 器件人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 分类等级3A
    • 器件充电器件模型(CDM) ESD分类等级C6
  • 高达2121Vpk 的SiC MOSFET和IGBT
  • 33V最大输出驱动电压(VDD-VEE)
  • ±10A驱动强度和分离输出
  • 最低CMTI:150V/ns
  • 270ns响应时间快速过流保护
  • 外部有源米勒钳位
  • 发生故障时软关断:900mA
  • 隔离侧的ASC输入可在系统出现故障时打开电源开关
  • 过流报警FLT和RST/EN复位
  • 在RST/EN上快速启用/禁用响应
  • 可抑制< 40ns的输入引脚噪声瞬变和脉冲
  • 12V VDD UVLO和–3V VEE UVLO,并通过RDY引脚指示电源良好
  • 输入/输出可耐受高达5 V的过冲/欠冲瞬态电压
  • 130 ns(最大值)传播延迟和30 ns(最大值)脉冲/零件偏移
  • SOIC-16 DW封装,爬电距离和间隙>8mm
  • 工作结温范围:–40°C至150°C

功能框图

电流隔离

UCC21737-Q1 汽车级SiC/IGBT隔离栅极驱动器技术解析

一、产品概述

UCC21737-Q1是德州仪器(TI)推出的符合AEC-Q100标准的汽车级单通道隔离栅极驱动器,专为电动汽车牵引逆变器、车载充电器等高压应用设计。该器件采用SOIC-16 DW封装,具有8mm以上的爬电距离和间隙,支持SiC MOSFET和IGBT驱动,最高工作电压达2121Vpk。

核心特性‌:

  • 强驱动能力‌:±10A峰值源/灌电流输出
  • 高隔离等级‌:5.7kVRMS增强隔离,150V/ns CMTI
  • 快速保护‌:270ns过流响应时间,集成软关断(900mA)
  • 灵活配置‌:支持分离输出、外部有源米勒钳位
  • 汽车认证‌:AEC-Q100 Grade 1(-40°C至+125°C)
  • 功能安全‌:提供功能安全设计文档支持

二、关键技术创新

1. 隔离与驱动架构

采用SiO2电容隔离技术实现输入/输出侧5.7kVRMS电气隔离,具有:

  • 超长寿命‌:40年以上隔离屏障寿命
  • 低传输延迟‌:130ns最大传播延迟
  • 高抗干扰‌:>150V/ns共模瞬态抗扰度(CMTI)

驱动级采用混合上拉结构(PMOS与NMOS并联),在米勒平台区提供更低等效阻抗(约0.7Ω),显著降低开关损耗。

2. 多重保护机制

四级保护体系‌:

  1. 电源监控‌:12V VDD UVLO和-3V VEE UVLO
  2. 过流保护‌:支持SenseFET/DESAT/分流电阻三种检测方式
  3. 主动短路(ASC) ‌:系统故障时强制开关管导通
  4. 热关断‌:结温超过150°C自动保护

三、典型应用设计

1. 电动汽车牵引逆变器驱动方案

设计参数‌:

  • 母线电压:800V DC
  • 开关频率:50kHz
  • IGBT模块:3300nC栅极电荷

关键设计要点‌:

  • 栅极电阻选型‌:
    • 开启电阻(RON):1Ω(实现5.9A峰值驱动)
    • 关断电阻(ROFF):1Ω(实现6.7A峰值驱动)
  • 电源去耦‌:
    • VDD-COM:10μF+100nF MLCC
    • VEE-COM:10μF+100nF MLCC
  • 保护电路‌:
    • DESAT检测阈值设置:R1=10kΩ, R2=5.1kΩ, CBLK=1nF
    • 软关断时间:tSTO=2μs → CSTO=40nF

2. PCB布局指南

  1. 功率回路‌:
    • COM引脚采用开尔文连接至IGBT发射极
    • 栅极回路面积<1cm²
  2. 隔离设计‌:
    • 器件下方保持无铜区域
    • 输入/输出侧地平面分离
  3. 热管理‌:
    • 使用2oz铜厚PCB
    • 添加16个φ0.3mm散热过孔

四、性能参数对比

参数UCC21737-Q1竞品A优势分析
传播延迟(ns)90(典型)120降低33%死区时间
CMTI(V/ns)150100提升50%抗干扰能力
过流响应时间(ns)270500缩短46%保护延时
工作结温(°C)-40~150-40~125扩展高温工作范围

五、设计注意事项

  1. 并联缓冲器配置‌:
    当驱动电流需超过10A时,可外接MJW44H11/MJW45H11缓冲对,需注意:
    • 添加RSTO≥(VDD-VEE)/10限流电阻
    • 按tSTO=ISTO×CSTO/(VDD-VEE)计算软关断电容
  2. ASC功能实现‌:
    • ASC引脚电压>2.9V时激活
    • APWM输出400kHz PWM信号用于状态监控
    • 典型响应延迟:660ns(上升)/300ns(下降)
  3. 热设计验证‌:
    • 计算最大功耗:PDR=0.1W(静态)+0.505W(开关)=0.605W@50kHz
    • 验证结温:Tj=125°C+(32.3°C/W×0.605W)≈145°C
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