‌LMK04832-SEP 芯片技术文档摘要

描述

LMK04832-SEP 是一款高性能时钟调节器,支持 JEDEC JESD204B/C,适用于太空应用。

PLL2的14个时钟输出可配置为使用器件和SYSREF时钟驱动7个JESD204B/C转换器或其他逻辑器件。SYSREF 可以使用直流和交流耦合提供。不仅限于 JESD204B/C 应用,14 个输出中的每一个都可以单独配置为传统时钟系统的高性能输出。
*附件:lmk04832-sep.pdf

该器件可配置为在双PLL、单PLL或时钟分配模式下工作,有或没有SYSREF生成或重新时钟。PLL2 可以与内部或外部 VCO 一起工作。

高性能与在功耗和性能之间权衡的能力、双 VCO、动态数字延迟和保持等功能相结合,可以提供灵活的高性能时钟树。

特性

  • 视频#:V62/22612
    • 总电离剂量 30 krad(不含 ELDRS)
    • SEL 免疫 >43 MeV × cm ^2^ /毫克
    • SEFI 免疫 >43 MeV × cm ^2^ /毫克
  • 环境温度范围:–55°C 至 125°C
  • 最大时钟输出频率:3255 MHz
  • 多模:双 PLL、单 PLL 和时钟分配
  • 6 GHz 外部 VCO 或分配输入
  • 超低噪声,2500 MHz:
    • 54 fs RMS 抖动(12 kHz 至 20 MHz)
    • 64 fs RMS 抖动(100 Hz 至 20 MHz)
    • –157.6 dBc/Hz 本底噪声
  • 超低噪声,3200 MHz:
    • 61 fs RMS 抖动(12 kHz 至 20 MHz)
    • 67 fs RMS 抖动(100 Hz 至 100 MHz)
    • –156.5 dBc/Hz 本底噪声
  • PLL2
    • PLL FOM 为 –230 dBc/Hz
    • PLL 1/f 为 –128 dBc/Hz
    • 相位检测器速率高达 320 MHz
    • 两个集成VCO:2440至2600 MHz和2945至3255 MHz
  • 多达 14 个差分器件时钟
    • CML、LVPECL、LCPECL、HSDS、LVDS 和 2xLVCMOS 可编程输出
  • 多达 1 个缓冲 VCXO/XO 输出
    • LVPECL、LVDS、2xLVCMOS 可编程
  • 1-1023 CLKOUT分频器
  • 1-8191 SYSREF 分频器
  • SYSREF时钟的25 ps步进模拟延迟
  • 器件时钟和 SYSREF 的数字延迟和动态数字延迟
  • PLL1 的保持模式
  • PLL1 或 PLL2 的 0 延迟
  • 高可靠性
    • 受控基线
    • 一个装配/测试站点
    • 一个制造现场
    • 延长产品生命周期
    • 扩展产品变更通知
    • 产品可追溯性

参数
清除器

方框图
清除器

1. 产品概述
LMK04832-SEP 是德州仪器(TI)推出的太空级超低噪声双环路时钟抖动清除器,专为JESD204B/C接口设计,适用于高可靠性航天应用。

  • 型号标识‌:VID# V62/22612
  • 关键认证‌:总电离剂量30 krad(无ELDRS效应)、单粒子锁定免疫(>43 MeV·cm²/mg)、单粒子功能中断免疫(>43 MeV·cm²/mg)
  • 工作温度‌:-55°C至125°C

2. 核心特性

  • 时钟性能
    • 最高输出频率:3255 MHz
    • 超低抖动(2500 MHz时):
      • 54-fs RMS(12 kHz–20 MHz)
      • 64-fs RMS(100 Hz–20 MHz)
    • 噪声基底:-157.6 dBc/Hz(2500 MHz)
  • 双PLL架构
    • PLL2支持内部/外部VCO,相位检测速率达320 MHz
    • 集成双VCO(2440–2600 MHz和2945–3255 MHz)
  • 输出配置
    • 14路可编程差分输出(支持CML/LVPECL/LVDS等)
    • 1路缓冲VCXO/XO输出

3. 功能模式

  • 支持双PLL、单PLL或纯时钟分配模式
  • 动态数字延迟调整(25 ps步进)
  • 保持模式(Holdover)与PLL1协同工作

4. 应用场景

  • 通信载荷
  • 雷达成像系统
  • 航天器指令与数据处理

5. 封装与可靠性

  • 封装型号‌:64-pin PAP0064E(10×10 mm)
  • 工程样品标注‌:LMK04832MPAPSEP(非飞行用途)
  • 高可靠性设计‌:单一制造/测试基地、全生命周期追溯
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