Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM逻辑和转换评估模块 (EVM) 设计用于支持任何逻辑或转换器件。它支持DTT (X1QFN-8)、DRY (USON-6)、DPW (X2SON-5)、DTM (X2SON-8)、DQE (X2SON-8)、DQM (X2SON-8)、DSF (X2SON-6) 或DTQ (X2SON-6) 封装。该评估模块可以评估采用上述封装的任何器件。PCB可分为七个部分,每个部分支持特定封装(板上指示)。Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM让用户能够灵活评估无引线逻辑和转换器件。
数据手册:*附件:Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM逻辑和转换EVM数据手册.pdf
特性
- 支持多种封装
- 兼容面包板
- 支持单电源和双电源器件
- 外形小巧,适合系统集成
- 电路板设计支持灵活、直接的评估
- 通过电路板V-score,可更轻松地分离电路板
板布局

Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM逻辑转换评估模块技术解析
一、产品概述
Texas Instruments的5-8-NL-LOGIC-EVM是一款通用评估模块,专为支持无铅逻辑和电平转换器件设计。该评估板采用创新的模块化设计,可灵活评估多种封装类型的逻辑器件,是工程师快速验证非引线逻辑器件的理想平台。
核心特性:
- 多封装支持:兼容DPW、DQE、DQM、DRY、DSF、DTM、DTQ和DTT等8种封装
- 灵活配置:支持单电源和双电源器件评估
- 易用设计:板载测试点和标准间距连接器
- 模块化设计:可分割的PCB结构便于单独使用特定封装区域
- 小型化设计:紧凑尺寸便于系统集成
二、硬件架构与配置
2.1 PCB布局设计
评估板采用创新的模块化布局:
- 七功能分区:每个区域支持特定封装类型
- V型刻槽设计:便于将PCB分割为独立评估模块
- 标准接口:100mil间距排针接口
- 电源管理:
- 独立VCCA和VCCB电源输入
- 0.1μF去耦电容焊盘
- 测试点便于电源监测
2.2 封装支持详情
| 封装代号 | 引脚数 | 封装类型 |
|---|
| DPW | 5 | X2SON |
| DQE | 8 | X2SON |
| DQM | 8 | X2SON |
| DRY | 6 | USON |
| DSF | 6 | X2SON |
| DTM | 8 | X2SON |
| DTQ | 6 | X2SON |
| DTT | 8 | X1QFN |
三、评估板使用指南
3.1 硬件配置步骤
- 选择目标区域:根据待测器件封装类型选择对应PCB区域
- 焊接器件:使用热风返修站焊接无引线器件(注意DPW封装中间焊盘需接地)
- 电源配置:
- 双电源模式:默认配置,VCCA和VCCB独立供电
- 单电源模式:通过0Ω电阻连接VCCA和VCCB
- 接口连接:使用配套排针连接信号线(可裁剪适配5/6引脚器件)
- 电源检查:上电前确认无电源短路
3.2 典型评估配置
- 信号连接:使用4pin排针连接器件IO
- 电源去耦:建议在VCCA/VCCB焊盘添加0.1μF陶瓷电容
- 测试点使用:
四、设计要点与建议
4.1 PCB设计参考
- 层叠结构:双面板设计
- 布线策略:
- 热管理:小尺寸封装评估时注意焊接温度控制
4.2 元件选型建议
- 去耦电容:0603封装X7R材质陶瓷电容
- 连接器:100mil间距排针
- 测试点:标准微型测试点
五、应用场景
- 逻辑电平转换验证:评估不同电压域的信号转换特性
- 接口逻辑验证:测试缓冲器、驱动器等逻辑器件的实际性能
- 系统原型开发:快速集成到面包板系统中进行功能验证
- 封装热性能测试:评估小尺寸封装的热特性