Texas Instruments LMP7704-SP精密运算放大器具有低输入偏置、低失调电压、2.5MHz增益带宽积和宽电源电压。该器件经过辐射硬化处理,工作温度范围为−55°C至125°C。该放大器的高直流精度(特别是±60µV低失调电压和±500FA超低输入偏置)使得该器件非常适合用于连接具有高输出阻抗的精密传感器。Texas Instruments LMP7704-SP精密运算放大器可配置为换能器、桥接器、应变计和跨阻抗放大器。
数据手册:*附件:Texas Instruments LMP7704-SP精密运算放大器数据手册.pdf
特性
- QML V类 (QMLV)、RHA、SMD 5962-19206
- 辐射性能
- RHA高达TID = 100 krad(Si)
- 无ELDRS,高达TID = 100 krad(Si)
- 不受LET影响的SEL = 85 MeV·cm ^2^ /mg
- 对LET表征的SEE = 85 MeV·cm ^2^ /mg
- 超低输入偏置电流:±500fA
- 输入失调电压:±60µV
- 单位增益带宽:2.5MHz
- 电源电压范围:2.7V至12V
- 轨到轨输入和输出
- 军用温度范围:-55°C至+125°C
- 采用14引脚CFP封装,具有行业标准四通道放大器引脚分配
功能框图

LMP7704-SP精密运算放大器在航天级应用中的技术解析
一、器件概述
LMP7704-SP是德州仪器(TI)推出的 辐射加固(RHA) 、四通道、低输入偏置电流的精密运算放大器,专为极端环境应用设计。其核心特性包括:
- 超低输入偏置电流:±500fA(典型值),适合高阻抗传感器接口。
- 低输入失调电压:±60µV(最大值),提升信号采集精度。
- 宽电源电压范围:2.7V至12V,兼容多种航天电子系统。
- 轨到轨输入/输出(RRIO) :最大化动态范围。
- 抗辐射性能:通过QML Class V认证,耐受TID达100krad(Si),抗单粒子锁定(SEL)至LET=85MeV·cm²/mg。
二、关键特性与优势
1. 辐射硬化设计
- 总电离剂量(TID) :通过低剂量率(LDR)和高剂量率(HDR)测试,非ELDRS效应至100krad(Si)。
- 单粒子效应(SEE) :无单粒子锁定(SEL),但需注意高电源电压(>5V)下可能因瞬态事件引发过应力风险。
- 中子位移损伤(NDD) :耐受1×10¹³ n/cm²,参数仍符合数据手册规范。
2. 精密性能
- 低噪声:输入电压噪声密度9nV/√Hz(1kHz),电流噪声1fA/√Hz(100kHz)。
- 高共模抑制比(CMRR) :86dB(VS=10V),减少共模干扰。
- 开环增益:121dB(VS=10V),适合精密放大场景。
3. 应用场景
- 卫星健康监测:高阻抗传感器信号调理。
- 科学载荷:低噪声前置放大。
- 姿态控制系统(AOCS) :高精度反馈环路。
三、辐射环境下的设计注意事项
- 电源去耦:避免高电压(>5V)下因SEE引发过应力,建议:
- 使用低ESR陶瓷电容(0.1µF+1µF组合)。
- 限流电阻(如10Ω)串联电源引脚。
- 差分输入保护:内部背靠背二极管限制差分电压至±300mV,需外接限流电阻(如1kΩ)。