‌Microchip Technology EV23P28A 评估板用户指南

Microchip Technology EV23P28A评估板旨在简化对MCP16701 IC功能的评估与测试。 该评估板配备的电路支持负载瞬态测试，具有快速电流上升时间和快速且可控的下降时间。如果在负载下测试多个通道，EV23P28A评估板在VSYST端需至少具备7A电流能力的电源。通过连接跳线J5，该评估板可直接由USB接口供电。EV23P28A评估板集成板载负载瞬态发生器电路。此电路可与外部信号生成器一起使用，用于评估降压通道1至4和LDO控制器的负载阶跃响应。典型应用包括DSP电源和MPU电源解决方案。

数据手册：*附件：Microchip Technology EV23P28A 评估板用户指南.pdf

特性

• 2.7 V 到 5.5 V 的输入电压范围
• 3.4MHz^I2C^接口
• 八个1.5A降压DC-DC通道
• 四个300mA高精度LDO
• 降压通道可选择相位（0°、90°、180°或270°）
• 全局复位（nRSTO_A），带可编程释放延迟
• 用户定义的重置 (nRSTO_P)，带可编程释放延迟
• 高精度、高PSRR LDO控制器，使用外部N沟道MOSFET (Q1)
• 并联降压通道1至4的输出电压为1V，最大电流能力可达6A
• 并联降压通道5和6输出电压为1.35V，最大电流能力可达3A
• 降压通道7输出电压为3.3V，电流能力为1.5A
• 降压通道8输出电压为1.35V，电流能力为1.5A
• 降压通道占空比能力为100%
• LDO控制器输出电压为1.05V
• 参考地（REFGND）连接至降压通道1至4，以提高输出电压精度
• 具备低噪声强制PWM模式和轻载高效模式（通过引脚选择或位控制切换）
• 开关频率外部同步
• 片上可编程非易失性存储器
• 非易失性存储器写入密码保护
• NVM和接口配备专用VDD 电源引脚，使编程过程无需启动整个应用系统
• 运行时可重新配置
• 降压通道的故障模式电流限制（可禁用）
• 可编程热预警和热关断保护
• nINTO引脚（中断标志）的LED可视指示器，支持对每个通道选择中断屏蔽
• 板载负载瞬态发生器，适用于VOUT1234和LDOC_OUT
• 所有可用输入和输出均设有测试点和插头
• 开关节点测试点
• 插头便于访问所有数字信号
• USB-C^®^ 连接器，便于与主机电脑连接
• 通用输出（GPO）
• 看门狗定时器（WDT）

布局

‌Microchip Technology EV23P28A 评估板用户指南总结‌

‌1. 产品概述‌

• ‌MCP16701 PMIC‌：专为FPGA和高性能MPU设计的电源管理集成电路，集成8路可并联DC-DC降压稳压器（每路1.5A）、4路辅助LDO（300mA）及1路外置MOSFET的LDO控制器，支持商业和工业应用温度范围（-40°C至+105°C）。
• ‌评估板功能‌：简化MCP16701性能测试，支持I2C接口配置（通过MCP2221 USB桥接器），提供负载瞬态生成电路、多路输出测试点及可视化中断指示灯。

‌2. 核心特性‌

• ‌输入/输出范围‌：输入电压2.7V-5.5V，Buck输出0.6V-3.8V，LDO控制器输出0.6V-1.6V。
• ‌灵活配置‌：Buck1-4并联（最大6A）、Buck5-6并联（3A）、Buck7/8独立（各1.5A）；LDO控制器由Buck8供电。
• ‌保护机制‌：可编程热警告/关断、过压/欠压保护、 hiccup模式电流限制及密码保护的NVM存储。

‌3. 使用流程‌

• ‌硬件连接‌：需外接电源（VSYST端子）或通过USB供电（限低功耗测试），负载连接至对应VOUTx端子。
• ‌GUI控制‌：通过I2C Monitor图形界面（需安装.NET Framework 4.5+）配置寄存器，支持实时监控状态标志（如故障中断、POK信号）。
• ‌负载测试‌：利用板载MOSFET电路（需外接信号发生器）实现快速瞬态响应测试，需注意电阻功率限制（如Buck1-4的0.33Ω电阻最大占空比33.3%）。

‌4. 设计要点‌

• ‌散热与布局‌：至少25个散热过孔连接IC底部焊盘至地平面，优先将REFGND接至核心电源地（如VOUT1234）以优化精度。
• ‌EMI优化‌：建议将开关节点布线在内层并用地平面包围。