STDRIVEG610评估板技术解析与应用指南

描述

STMicroelectronics EVLSTDRIVEG610Q评估板基于STDRIVEG610高速半桥栅极驱动器,优化用于驱动高压增强型GaN HEMT。STDRIVEG610提供独立的大电流灌/拉栅极驱动引脚、集成LDO、自举二极管、欠压、高侧快速启动、过热、故障和关闭引脚以及待机,以支持4mm x 5mm QFN封装中的硬开关拓扑。

数据手册:*附件:STMicroelectronics EVLSTDRIVEG610Q 评估板数据手册.pdf

特性

  • 半桥拓扑结构,采用STDRIVEG610 GaN栅极驱动器,集成LDO、独立灌/拉电流、集成自举二极管和待机功能
  • 配备75mΩ典型值,650 V e模式HEMT GaN
  • 电源电压VCC 为9V至18V(典型值为12V)
  • 板载可调死区时间生成器,可将单个PWM信号转换为具有死区时间的独立高侧和低侧输入
  • 可调硬接通和硬断开dV/dt
  • 也可以使用带外部死区的独立输入
  • 外部自举二极管可实现最短的高侧启动时间
  • 可选附加高压电容器的占位面积
  • 用于外部电路供电的板载3.3V稳压器
  • 符合RoHS标准

电源和信号连接

评估板

元器件布局 - 顶部视图

评估板

元器件放置 - 底部视图

评估板

STDRIVEG610评估板技术解析与应用指南

一、核心特性与设计亮点

1.1 器件架构

  • 驱动芯片‌:STDRIVEG610专为650V E-Mode GaN HEMT设计,集成LDO、独立源/漏驱动引脚及自举二极管,支持硬开关拓扑(4x5mm QFN封装)。
  • 功率级‌:搭载2颗SGT120R65AL GaN器件(75mΩ/650V),采用底部冷却PowerFLAT 5x6封装,双面PCB设计实现48°C/W单管热阻(静态空气)。

1.2 关键功能模块

  • 可编程死区发生器‌:通过TR1/TR2调节高低侧开关时序(默认100ns),支持PWM信号自动分频为HIN/LIN。
  • 电源管理‌:板载3.3V LDO(ST715MR)为外部逻辑供电,支持50mA负载,可通过电阻调整至5V输出。
  • 安全特性‌:集成UVLO、过热保护、故障输出(FLT引脚)及待机模式(STBY引脚)。

二、硬件配置与接口定义

2.1 接口布局(J1连接器)

引脚功能说明
1VCC驱动电源(9-18V,12V典型)
9/10HIN_D/LIN_D直接输入模式(需移除R24/R30)
12PWM死区发生器输入(0-3.3V/5V)

2.2 输入模式选择

  • 单PWM模式‌(默认):R24/R30闭合,R22/R28开路,PWM经死区发生器输出HIN/LIN。
  • 独立HIN/LIN模式‌:R22/R28闭合,直接连接外部控制器,支持20V高压输入。

2.3 电源时序

  • 上电顺序‌:先启动VCC,后施加高压总线(HV)。
  • 下电顺序‌:先关闭HV,再断开VCC,避免栅极误触发。

三、典型应用场景与调试建议

3.1 GaN驱动优化

  • dV/dt调节‌:通过RONH/RONL电阻(默认33Ω)调整开关速率,降低EMI辐射。
  • 自举电路‌:外接二极管(D1)可缩短高侧启动时间,建议搭配47nF Bootstrap电容(C7)。

3.2 安全操作规范

  • 高压隔离‌:评估板未设计电气隔离,需使用绝缘探头测量,禁止带电触摸PCB。
  • 散热管理‌:建议强制风冷(RthJA=24°C/W),避免GaN器件结温超过150℃。

3.3 扩展接口应用

  • MMCX连接器‌(CN4/CN5):用于监测栅极电压(HS/LS Vgs)。
  • 备用焊盘‌:支持外接高压电容(C4-C6)或修改信号路径(如分离HIN/LIN)。

四、设计参考与物料选型

4.1 核心器件清单

型号功能关键参数
STDRIVEG610栅极驱动IC4x5mm QFN,集成LDO/自举二极管
SGT120R65ALGaN HEMT650V/75mΩ,PowerFLAT封装
ST715MRLDO稳压器输入电压≤40V,3.3V输出

4.2 PCB设计要点

  • 层叠结构‌:2层FR-4板(1.5oz铜厚),顶层布局功率回路,底层放置逻辑器件。
  • 热设计‌:GaN器件下方预留散热过孔阵列,推荐使用导热垫片增强散热。
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