STMicroelectronics EVLSTDRIVEG610Q评估板基于STDRIVEG610高速半桥栅极驱动器,优化用于驱动高压增强型GaN HEMT。STDRIVEG610提供独立的大电流灌/拉栅极驱动引脚、集成LDO、自举二极管、欠压、高侧快速启动、过热、故障和关闭引脚以及待机,以支持4mm x 5mm QFN封装中的硬开关拓扑。
数据手册:*附件:STMicroelectronics EVLSTDRIVEG610Q 评估板数据手册.pdf
特性
- 半桥拓扑结构,采用STDRIVEG610 GaN栅极驱动器,集成LDO、独立灌/拉电流、集成自举二极管和待机功能
- 配备75mΩ典型值,650 V e模式HEMT GaN
- 电源电压V
CC 为9V至18V(典型值为12V) - 板载可调死区时间生成器,可将单个PWM信号转换为具有死区时间的独立高侧和低侧输入
- 可调硬接通和硬断开dV/dt
- 也可以使用带外部死区的独立输入
- 外部自举二极管可实现最短的高侧启动时间
- 可选附加高压电容器的占位面积
- 用于外部电路供电的板载3.3V稳压器
- 符合RoHS标准
电源和信号连接

元器件布局 - 顶部视图

元器件放置 - 底部视图

STDRIVEG610评估板技术解析与应用指南
一、核心特性与设计亮点
1.1 器件架构
- 驱动芯片:STDRIVEG610专为650V E-Mode GaN HEMT设计,集成LDO、独立源/漏驱动引脚及自举二极管,支持硬开关拓扑(4x5mm QFN封装)。
- 功率级:搭载2颗SGT120R65AL GaN器件(75mΩ/650V),采用底部冷却PowerFLAT 5x6封装,双面PCB设计实现48°C/W单管热阻(静态空气)。
1.2 关键功能模块
- 可编程死区发生器:通过TR1/TR2调节高低侧开关时序(默认100ns),支持PWM信号自动分频为HIN/LIN。
- 电源管理:板载3.3V LDO(ST715MR)为外部逻辑供电,支持50mA负载,可通过电阻调整至5V输出。
- 安全特性:集成UVLO、过热保护、故障输出(FLT引脚)及待机模式(STBY引脚)。
二、硬件配置与接口定义
2.1 接口布局(J1连接器)
| 引脚 | 功能 | 说明 |
|---|
| 1 | VCC | 驱动电源(9-18V,12V典型) |
| 9/10 | HIN_D/LIN_D | 直接输入模式(需移除R24/R30) |
| 12 | PWM | 死区发生器输入(0-3.3V/5V) |
2.2 输入模式选择
- 单PWM模式(默认):R24/R30闭合,R22/R28开路,PWM经死区发生器输出HIN/LIN。
- 独立HIN/LIN模式:R22/R28闭合,直接连接外部控制器,支持20V高压输入。
2.3 电源时序
- 上电顺序:先启动VCC,后施加高压总线(HV)。
- 下电顺序:先关闭HV,再断开VCC,避免栅极误触发。
三、典型应用场景与调试建议
3.1 GaN驱动优化
- dV/dt调节:通过RONH/RONL电阻(默认33Ω)调整开关速率,降低EMI辐射。
- 自举电路:外接二极管(D1)可缩短高侧启动时间,建议搭配47nF Bootstrap电容(C7)。
3.2 安全操作规范
- 高压隔离:评估板未设计电气隔离,需使用绝缘探头测量,禁止带电触摸PCB。
- 散热管理:建议强制风冷(RthJA=24°C/W),避免GaN器件结温超过150℃。
3.3 扩展接口应用
- MMCX连接器(CN4/CN5):用于监测栅极电压(HS/LS Vgs)。
- 备用焊盘:支持外接高压电容(C4-C6)或修改信号路径(如分离HIN/LIN)。
四、设计参考与物料选型
4.1 核心器件清单
| 型号 | 功能 | 关键参数 |
|---|
| STDRIVEG610 | 栅极驱动IC | 4x5mm QFN,集成LDO/自举二极管 |
| SGT120R65AL | GaN HEMT | 650V/75mΩ,PowerFLAT封装 |
| ST715MR | LDO稳压器 | 输入电压≤40V,3.3V输出 |
4.2 PCB设计要点
- 层叠结构:2层FR-4板(1.5oz铜厚),顶层布局功率回路,底层放置逻辑器件。
- 热设计:GaN器件下方预留散热过孔阵列,推荐使用导热垫片增强散热。