STMicroelectronics EVLSTGAP3S6S半桥评估板设计用于评估STGAP3S6S隔离式单栅极驱动器。STGAP3S6S具有6A电流能力、轨到轨输出以及用于SiC MOSFET的优化UVLO和DESAT保护阈值。因此,该器件非常适合用于工业应用中的大功率电机驱动器。该栅极驱动器具有单输出引脚和用于外部米勒钳位N沟道MOSFET的驱动器线路。该选项优化了半桥拓扑中快速换向期间的正负栅极尖峰抑制。
数据手册:*附件:STMicroelectronics EVLSTGAP3S6S半桥评估板数据手册.pdf
该板由5V VAUX连接供电,为低侧和高侧驱动部分的隔离式直流-直流转换器馈送。如果使用5V MCU,VAUX 可以直接给栅极驱动器供电,如果使用使用3.3V MCU,则由板载线性稳压器供电。PWM和复位输入可通过专用连接器轻松控制,诊断输出连接到板载LED。
器件保护特性(去饱和、软关断和米勒钳位)连接到推荐的电路板上网络,可通过电路板测试点轻松评估。双输入引脚支持选择信号极性控制和实施硬件互锁保护,以在控制器发生故障时避免交叉传导。该器件支持实现负栅极驱动,板载隔离式直流-直流转换器支持在优化的SiC MOSFET驱动电压下工作。
STMicroelectronics EVLSTGAP3S6S板支持评估STGAP3S6S的所有特性,同时在高达520V的总线电压下工作。如果需要,通过采用H^2^PAK-7封装和C4电容的适当器件替代两个SiC MOSFET,可将总线电压提高到1200V。
特性
- STGAP3SXS器件
- 驱动器电流能力:6A拉电流/灌电流(25°C时)
- 输入-输出传播延迟:75ns
- 米勒夹钳驱动器,用于外部N沟道MOSFET
- 可调软关断功能
- UVLO功能
- 去饱和保护
- 栅极驱动电压高达32V
- 负栅极驱动电压
- 3.3V、5V TTL/CMOS输入,带迟滞
- 温度关断保护
- 增强型电隔离
- 隔离电压V
ISO = 5.7kV RMS (符合UL 1577标准) - 瞬态过压V
IOTM = 8kV PEAK (符合IEC 60747-17标准) - 最大重复隔离电压V
IORM = 1.2kV PEAK (符合IEC 60747-17标准)
板布局

STGAP3S6S隔离栅极驱动评估板技术解析与应用指南
评估板核心特性与设计架构
STMicroelectronics EVLSTGAP3S6S评估板是针对STGAP3S6S隔离单通道栅极驱动器的专业开发平台,专为碳化硅(SiC) MOSFET驱动优化设计。该板采用半桥拓扑结构,具有以下核心特性:
- 高压支持能力:工作母线电压最高达520V(受限于MOSFET和电容额定值),可通过更换H2PAK-7封装的SiC MOSFET扩展至1200V
- 驱动配置灵活:通过跳线可选择四种驱动电压配置(+19/0V、+19/-4.7V、+17/0V、+17/-4.7V)
- 集成保护功能:包含去饱和保护、可调软关断、米勒钳位驱动等先进保护机制
- 电气隔离设计:板载隔离DC-DC转换器提供5.2kVpk最大隔离,符合UL 1577和IEC 60747-17标准
评估板采用双通道对称设计,包含两个STGAP3S6S驱动器分别控制高边和低边MOSFET。其架构特点包括:
- 电源管理:由5V VAUX供电,通过隔离DC-DC转换器为高低边驱动电路供电
- 控制接口:兼容3.3V/5V MCU,提供专用连接器控制PWM和Reset输入
- 诊断指示:板载LED显示故障状态,测试点便于测量关键信号
关键元器件选型与电路设计
功率器件选择
评估板采用SCTH60N120G2-7 SiC MOSFET作为功率开关管,其关键参数为:
- 耐压:1200V
- 导通电阻:52mΩ
- 连续电流:60A
- 封装:H2PAK-7
该MOSFET的选择充分考虑了SiC器件的高速开关特性和高耐压需求,与STGAP3S6S驱动器的6A驱动能力完美匹配。
栅极驱动电路设计
驱动电路包含多项创新设计:
- 米勒钳位电路:通过外部N沟道MOSFET(STL7N6F7)实现,有效抑制桥臂换流时的栅极正负尖峰
- 软关断功能:可调软关断时间,防止关断过电压损坏器件
- 保护电路:集成去饱和检测、UVLO保护和温度关断三重保护机制
驱动电阻网络设计考虑了开关速度与EMI的平衡:
- 栅极驱动电阻:2.2Ω(源出)/2.2Ω(吸入)
- 米勒钳位驱动电阻:10Ω
安全操作规范与评估建议
安全注意事项
根据数据手册强调,使用评估板时必须遵守以下安全准则:
- 工作环境要求:
- 必须由熟悉电力电子系统的专业技术人员操作
- 工作区域需清洁整齐,设置防触电警示屏障
- 使用绝缘工作台和测量探头
- 电气安全措施:
- 禁止带电触摸评估板,断电后需等待电容完全放电
- 操作时需佩戴绝缘手套和护目镜
- 所有高压测量必须使用适当绝缘的测试线
- 安装与冷却:
- 必须严格按照规格书要求进行安装和散热
- 避免机械应力导致绝缘距离改变
- 防止静电损坏敏感元件
评估测试建议
为充分发挥评估板功能,建议按照以下流程进行系统评估:
- 基础功能验证:
- 检查各电源电压(VAUX、VDD、VH/VL)
- 验证PWM信号传输与极性控制
- 测试LED诊断指示功能
- 保护功能测试:
- 模拟去饱和条件验证保护响应
- 调整软关断时间观察关断波形
- 测试UVLO阈值和恢复特性
- 动态性能评估:
- 测量输入-输出传播延迟(典型值75ns)
- 分析开关过程中的栅极电压振荡
- 评估不同驱动电压配置下的开关损耗
典型应用场景与设计参考
EVLSTGAP3S6S评估板主要面向工业高功率应用,特别适用于:
- 工业电机驱动器
- 太阳能逆变器
- 电动汽车充电桩
- 不间断电源(UPS)系统
评估板提供的参考设计可直接用于:
- 半桥拓扑:通过CN1-CN3连接器扩展功率级
- 驱动配置:跳线选择适合SiC MOSFET的驱动电压
- 保护电路:直接复用板载的去饱和检测和米勒钳位网络
对于需要更高电压的应用,设计人员可参考评估板的布局和元件选择,替换以下组件:
- 功率MOSFET:升级至更高电压等级的SiC器件
- 电容C4:更换更高耐压的薄膜电容
- 隔离元件:确保满足增强绝缘要求
设计资源与技术支持
STMicroelectronics为评估板提供全套设计资源:
- 完整原理图(包含栅极驱动级和电源部分)
- 四层PCB布局文件(顶层、内层1/2、底层)
- 详细的物料清单(BOM表)
- 安全操作指南
工程师可通过ST官方渠道获取:
- SPICE模型用于仿真验证
- 热设计指南
- 应用笔记(如AN4672"使用STGAP隔离驱动器驱动SiC MOSFET")